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液晶光栅相控阵波前检测及性能分析

摘要第1-7页
Abstract第7-12页
第一章 绪论第12-21页
   ·论文研究背景及意义第12-13页
   ·液晶光学相控阵器件的发展概况第13-15页
   ·波前测量技术的国内外研究现状第15-19页
   ·液晶光栅相控阵波前测量技术的国内外研究现状第19页
   ·本文研究的主要内容第19-21页
第二章 液晶光栅相控阵原理及性能分析第21-37页
   ·液晶光栅相控阵原理第21-22页
   ·角谱衍射理论第22-24页
     ·角谱的含义第23-24页
     ·基于平面波角谱的衍射理论第24页
   ·用角谱理论来分析液晶光栅相控阵的性能第24-36页
     ·理想液晶光栅相控阵的性能第24-26页
     ·液晶光栅相控阵相位轮廓误差对性能的影响第26-36页
       ·周期型相位误差对液晶光栅相控阵性能的影响第28-29页
       ·非周期型相位误差对液晶光栅相控阵性能的影响第29-35页
       ·各种误差源的特点分析第35-36页
   ·小结第36-37页
第三章 液晶光栅相控阵波前测试方法分析第37-52页
   ·相位误差为周期型时的波前测试方法第37页
   ·相位误差为非周期型时的波前测试方法第37-51页
     ·直接测试相位法第38-39页
       ·测试方法分析第38-39页
       ·工作性能评判依据第39页
     ·单一衍射级反演法第39-51页
       ·测试方法分析第39-50页
       ·工作性能评判依据第50-51页
   ·小结第51-52页
第四章 径向剪切干涉波前测试系统分析第52-83页
   ·波前测量方法的选择第52页
   ·整体测量方案第52-53页
   ·径向剪切干涉测量原理第53-59页
     ·四边形径向剪切干涉光路结构第53-56页
     ·相位重构算法第56-59页
       ·相位重构算法第56-59页
       ·相位重构算法精度第59页
   ·波前重构的计算机仿真第59-61页
   ·几种特殊波面入射时的干涉条纹图仿真分析第61-67页
     ·平面波入射时得到的干涉条纹图第61-63页
     ·台阶形波面入射时得到的干涉条纹图第63-66页
     ·高斯波入射时得到的干涉条纹图第66-67页
   ·径向剪切干涉仪用于直接测试液晶光栅相控阵波前分析第67-78页
     ·自载波调制剪切干涉法第68-77页
     ·固定载波调制的剪切干涉法第77-78页
   ·径向剪切干涉仪用于单一衍射级反演液晶光栅相控阵波前分析第78-82页
     ·测试系统结构第79-80页
     ·测试方法分析第80-82页
   ·小结第82-83页
第五章 径向剪切干涉仪测试液晶光栅相控阵波前实验第83-100页
   ·剪切干涉仪的标定测试实验第83-86页
   ·液晶光栅的静态相位分布第86-87页
   ·液晶光栅的电压-相移特性测试实验第87-96页
     ·液晶光栅在 0.6328μm 光波入射时的电压-相移特性测试第89-91页
     ·液晶光栅在 1.064μm 光波入射时的电压-相移特性测试第91-94页
     ·液晶光栅在不同波长光波入射时的电压-相移特性比较第94-96页
   ·液晶光栅的偏转波前测试第96-99页
   ·小结第99-100页
第六章 Mach-Zehnder 共轭干涉仪测试液晶光栅相控阵波前分析及实验结果.第100-115页
   ·Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪测试原理第100-104页
     ·共轭移相干涉仪光路结构第100-101页
     ·移相干涉相位重构算法第101-103页
     ·Mach-Zehnder 共轭移相测试液晶光栅相控阵波前的两个问题第103-104页
   ·Mach-Zehnder 共轭干涉傅里叶变换法测试原理第104页
   ·Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪相移标定方法第104-109页
     ·连续在线标定法第105-108页
     ·正交标定法第108-109页
   ·Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪测试液晶光栅相控阵波前实验第109-114页
     ·测量液晶光栅静态相位分布第110-111页
     ·测量不同周期下液晶光栅波前分布第111-114页
   ·小结第114-115页
第七章 结论和展望第115-116页
   ·本论文研究结论第115页
   ·今后工作展望第115-116页
致谢第116-117页
参考文献第117-124页
攻博期间取得的成果第124页
攻博期间参加的科研项目第124-125页

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