键盘电磁泄漏发射信息还原关键技术研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序 | 第8-13页 |
| 1 绪论 | 第13-21页 |
| ·概述 | 第13-14页 |
| ·电磁泄漏发射技术 | 第14-19页 |
| ·TEMPEST简介 | 第14-15页 |
| ·TEMPEST发展历程 | 第15-16页 |
| ·侧信道攻击 | 第16-19页 |
| ·国内外研究现状 | 第19-20页 |
| ·国外研究现状 | 第19-20页 |
| ·国内研究现状 | 第20页 |
| ·本文研究的内容 | 第20-21页 |
| 2 信息设备的电磁泄漏发射机理分析 | 第21-35页 |
| ·电磁泄漏发射 | 第21-23页 |
| ·红信号电磁泄漏发射 | 第23-27页 |
| ·基带信号泄漏发射 | 第23-24页 |
| ·信号调制电磁泄漏发射 | 第24-26页 |
| ·信号冲激信号电磁泄漏发射 | 第26-27页 |
| ·其它红信号 | 第27页 |
| ·信号分析与建模 | 第27-34页 |
| ·数字信号泄漏理想发射模型 | 第27-30页 |
| ·数字信号实际发射模型 | 第30-34页 |
| ·总结 | 第34-35页 |
| 3 键盘电磁泄漏发射机理分析 | 第35-51页 |
| ·概述 | 第35-36页 |
| ·键盘的辐射机理 | 第36-46页 |
| ·键盘结构 | 第36-37页 |
| ·键盘电路板的电磁泄漏发射 | 第37-38页 |
| ·键盘工作过程的电磁泄漏发射 | 第38-42页 |
| ·键盘接口的电磁泄漏发射 | 第42-44页 |
| ·键盘与主机通讯过程中的电磁泄漏发射 | 第44-46页 |
| ·键盘的电磁泄漏发射特性 | 第46-49页 |
| ·键盘电磁泄漏发射危害性分析 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 4 键盘辐射信号的测试和还原算法研究 | 第51-67页 |
| ·信号检测的硬件平台的选择 | 第51-52页 |
| ·键盘辐射信号测试 | 第52-57页 |
| ·不同距离下同一按键的电磁泄漏发射测量 | 第52-53页 |
| ·不同按键同一距离下的电磁泄漏发射测量 | 第53-55页 |
| ·USB接口键盘的电磁泄漏发射观测 | 第55-57页 |
| ·测试结果分析 | 第57页 |
| ·PS/2键盘按键信息还原算法研究 | 第57-65页 |
| ·键盘的PS2协议分析 | 第57-58页 |
| ·解码算法研究 | 第58-63页 |
| ·算法设计 | 第63-65页 |
| ·算法分析 | 第65页 |
| ·不同键盘间的区分 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 5 系统平台搭建和测试 | 第67-75页 |
| ·硬件平台 | 第67-69页 |
| ·硬件测试平台搭建 | 第67-68页 |
| ·键盘辐射信号的获取 | 第68-69页 |
| ·系统软件设计 | 第69-72页 |
| ·软件系统流程图 | 第69-70页 |
| ·系统平台结构设计 | 第70-72页 |
| ·模块及主要函数功能介绍 | 第72页 |
| ·实际测试结果 | 第72-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 6 总结与展望 | 第75-77页 |
| ·总结 | 第75-76页 |
| ·展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 附录A | 第79-83页 |
| 附录B | 第83-89页 |
| 学位论文数据集 | 第89页 |
