基于轮廓对比的PCB裸板缺陷检测算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-20页 |
| ·PCB缺陷检测技术发展历程 | 第11-13页 |
| ·AOI在PCB缺陷检测中的应用研究现状 | 第13-14页 |
| ·PCB裸板缺陷检测算法研究现状 | 第14-16页 |
| ·基于轮廓对比的PCB裸板缺陷检测算法 | 第16-18页 |
| ·本论文主要研究工作和创新之处 | 第18-20页 |
| 2 图像分割和区域标记 | 第20-40页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·图像分割技术回顾 | 第20-26页 |
| ·基于直方图统计的双门限分割方法 | 第26-29页 |
| ·现有的区域标记算法及特点分析 | 第29-30页 |
| ·基于游程连通分析的区域标记算法 | 第30-35页 |
| ·算法并行化实现 | 第35-37页 |
| ·标记算法性能测试 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 3 轮廓提取 | 第40-58页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·现有的轮廓提取算法及特点分析 | 第40-42页 |
| ·基于游程连通分析的轮廓提取新算法 | 第42-53页 |
| ·算法测试与分析 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 4 轮廓亚像素校正 | 第58-77页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·现有亚像素边缘检测算法 | 第58-73页 |
| ·亚像素边缘检测算法检测精度对比测试 | 第73-74页 |
| ·Zernike矩法亚像素校正性能测试 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 5 轮廓配准 | 第77-97页 |
| ·引言 | 第77-78页 |
| ·图像配准理论 | 第78-80页 |
| ·配准算法的分类 | 第80-86页 |
| ·基于轮廓特征的配准算法发展现状 | 第86-88页 |
| ·基于轮廓点法向角特征的配准算法 | 第88-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 6 缺陷检测与分析 | 第97-110页 |
| ·引言 | 第97页 |
| ·轮廓对比 | 第97-100页 |
| ·PCB裸板缺陷种类 | 第100-102页 |
| ·基于轮廓比对的各种缺陷识别原理 | 第102-106页 |
| ·实例验证与分析 | 第106-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 7 总结与展望 | 第110-113页 |
| 致谢 | 第113-114页 |
| 参考文献 | 第114-123页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第123页 |
