| 第一章 绪论 | 第1-26页 |
| ·引言 | 第5-6页 |
| ·ZnO薄膜的基本特性及其应用 | 第6-9页 |
| ·电阻存储器的研究现状 | 第9-23页 |
| ·ZnO电阻存储器的研究现状 | 第23-25页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第25-26页 |
| 第二章 基于ZnO薄膜电阻存储器的制备及表征 | 第26-36页 |
| ·器件制备 | 第26-31页 |
| ·器件表征 | 第31-36页 |
| 第三章 氧分压对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第36-48页 |
| ·引言 | 第36-37页 |
| ·实验过程 | 第37页 |
| ·计算方法 | 第37-38页 |
| ·结果与讨论 | 第38-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 退火对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第48-57页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·实验过程 | 第48-49页 |
| ·结果与讨论 | 第49-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 ZnO薄膜厚度对电阻开关特性的影响 | 第57-68页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·实验过程 | 第57-58页 |
| ·结果与讨论 | 第58-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 电极对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第68-82页 |
| ·引言 | 第68-69页 |
| ·下电极对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第69-73页 |
| ·上电极对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第73-79页 |
| ·电极尺寸对ZnO薄膜电阻开关特性的影响 | 第79-80页 |
| ·本章小结 | 第80-82页 |
| 第七章 Pt/ZnO:Ti/n~+-Si电阻存储器的研究 | 第82-91页 |
| ·引言 | 第82-83页 |
| ·实验过程 | 第83页 |
| ·结果与讨论 | 第83-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第八章 Pt/TiO_x/ZnO/n~+-Si电阻存储器的研究 | 第91-98页 |
| ·引言 | 第91-92页 |
| ·实验过程 | 第92页 |
| ·结果与讨论 | 第92-97页 |
| ·本章小结 | 第97-98页 |
| 第九章 结论 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 个人简历 | 第118-119页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与取得的其它研究成果 | 第119-120页 |