同轴连接器电接触故障研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
·研究背景及意义 | 第9-11页 |
·电接触故障的研究现状 | 第11-13页 |
·本文主要工作和内容安排 | 第13-14页 |
第二章 电接触的理论基础 | 第14-22页 |
·电接触理论 | 第14-19页 |
·收缩电阻的形成和计算 | 第14-16页 |
·膜层电阻的形成与计算 | 第16-19页 |
·有限元法仿真 | 第19-21页 |
·有限元分析方法 | 第19-20页 |
·ANSYS有限元计算软件介绍 | 第20-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第三章 射频连接器接触故障有限元仿真 | 第22-32页 |
·高频有限元仿真过程 | 第22-24页 |
·高频接触电阻的分析 | 第24-28页 |
·膜层电阻 | 第25-27页 |
·收缩电阻 | 第27页 |
·电流延长路径部分电阻 | 第27-28页 |
·高频接触电感的分析 | 第28页 |
·高频接触电容 | 第28-29页 |
·高频接触阻抗模型 | 第29-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第四章 接触故障非线性效应 | 第32-38页 |
·电接触引起的非线性效应 | 第32-34页 |
·谐波和交调杂散 | 第34-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第五章 腐蚀同轴链接器的测试 | 第38-54页 |
·实验相关准备 | 第38-40页 |
·腐蚀气体的配制和人工腐蚀办法 | 第38-39页 |
·连接器的人工腐蚀处理 | 第39-40页 |
·直流接触电阻的测量 | 第40-43页 |
·实验测量方法与仪器 | 第40-41页 |
·实验结果及讨论 | 第41-43页 |
·高频接触阻抗的测量 | 第43-47页 |
·实验方法与仪器 | 第43-44页 |
·实验结果及讨论 | 第44-47页 |
·接触阻抗造成的误码测试 | 第47-48页 |
·实验方法与仪器 | 第47页 |
·实验结果及讨论 | 第47-48页 |
·对接触阻抗模型的研究 | 第48-53页 |
·模拟方法与仪器 | 第48-49页 |
·实验结果与讨论 | 第49-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第六章 本文工作总结和展望 | 第54-56页 |
·工作总结 | 第54页 |
·工作展望 | 第54-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第60页 |