| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| ·半导体发光管发展概述 | 第9-14页 |
| ·半导体材料发展历史 | 第9-10页 |
| ·半导体发光二极管的研究进展 | 第10-12页 |
| ·GaN 基发光二极管的发展 | 第12-14页 |
| ·GAN 基发光管介绍 | 第14-16页 |
| ·发光管发光原理 | 第14-15页 |
| ·GaN 基发光管衬底及结构 | 第15-16页 |
| ·GaN 基发光管高亮度发光原理 | 第16页 |
| ·可靠性研究的必要性及研究进展 | 第16-18页 |
| ·本论文的主要工作及成果 | 第18-21页 |
| 第2章 可靠性理论基础 | 第21-33页 |
| ·可靠性基本概念 | 第21页 |
| ·可靠性数学基础 | 第21-26页 |
| ·可靠度R(t) | 第22页 |
| ·失效概率F(t) | 第22页 |
| ·失效概率密度f(t) | 第22-23页 |
| ·瞬时失效率(失效率)λ(t ) | 第23-25页 |
| ·寿命 | 第25-26页 |
| ·可靠寿命 | 第26页 |
| ·寿命试验 | 第26-32页 |
| ·加速寿命试验（ALT） | 第27页 |
| ·寿命试验中要考虑的问题如下 | 第27-28页 |
| ·指数分布寿命试验的分类 | 第28页 |
| ·测试周期 | 第28-29页 |
| ·投放样品数量的确定 | 第29-30页 |
| ·试验截止时间问题 | 第30页 |
| ·数据分析 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 GAN 基发光二极管热特性分析 | 第33-47页 |
| ·在驱动电流下热的产生 | 第33-34页 |
| ·GAN 基发光二极管的主要参数受结温的影响 | 第34-35页 |
| ·不同电流对器件的光输出及波长的影响 | 第35-37页 |
| ·温升测量 | 第37-45页 |
| ·半导体发光器件的热学参数介绍 | 第37-38页 |
| ·结温测量原理简介 | 第38-39页 |
| ·GaN 基发光二极管的温度系数测量 | 第39-41页 |
| ·热阻测量及温升测量 | 第41-45页 |
| ·降低结温的方法 | 第45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 GAN 基蓝、绿色发光二极管的加速寿命试验 | 第47-56页 |
| ·加速寿命试验（ALT） | 第47页 |
| ·电流加速试验原理 | 第47-48页 |
| ·高温加速试验原理 | 第48-50页 |
| ·蓝光及绿光发光管的寿命分析 | 第50-54页 |
| ·试验条件选择 | 第50-51页 |
| ·试验及数据分析 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第5章 失效分析 | 第56-70页 |
| ·失效的概念及基本内容 | 第56页 |
| ·加速试验 | 第56-57页 |
| ·加速试验失效模式 | 第56-57页 |
| ·失效机理分析总述 | 第57-60页 |
| ·电应力加速试验研究失效机理 | 第60-66页 |
| ·老化初期Mg 掺杂剂对器件性能的影响 | 第60页 |
| ·环氧封装在大电流下的退化分析 | 第60-62页 |
| ·电学失效 | 第62-66页 |
| ·电流拥挤效应的影响 | 第66页 |
| ·高温应力试验 | 第66-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |