摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
·合成孔径雷达概述 | 第9-10页 |
·数据形成器概述 | 第10-11页 |
·原始数据压缩的提出 | 第11-12页 |
·原始数据压缩的历史与现状 | 第12-13页 |
·论文的意义及主要内容 | 第13-14页 |
·论文的主要贡献及创新性工作 | 第14-16页 |
第2章 数据形成器 FPGA的设计及测试方法 | 第16-41页 |
·数字电路自顶向下(Top-Down)的设计方法 | 第16-18页 |
·FPGA设计流程 | 第18-33页 |
·设计输入 | 第19-20页 |
·综合(Synthesis) | 第20-22页 |
·功能验证(Function Verification) | 第22-29页 |
·静态时序分析STA(Static Timing Analysis) | 第29-33页 |
·FPGA调试方法 | 第33-40页 |
·FPGA厂商提供的逻辑分析仪核 | 第34-35页 |
·外部逻辑分析仪 | 第35-37页 |
·Synplicity公司提供 ldentify 在片调试工具 | 第37-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第3章 多时钟系统的同步技术 | 第41-61页 |
·亚稳态(Metastable State)在同步电路中的表现 | 第41-44页 |
·亚稳态(Metastable State)的定义以及平均无故障时间 | 第44-47页 |
·D触发器(DFF)的内部结构 | 第44-45页 |
·再生(Regenerative)电路 | 第45页 |
·D触发器动态特性以及亚稳态的概念 | 第45-46页 |
·平均无故障时间(MTBF) | 第46-47页 |
·信号同步的分类 | 第47-48页 |
·同步器的设计 | 第48-60页 |
·控制信号的同步 | 第49-52页 |
·数据同步器 | 第52-53页 |
·同步器在数据形成器中的应用 | 第53-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第4章 ADC动态参数测量 | 第61-75页 |
·ADC参数定义 | 第61-64页 |
·ADC有效位数测试环境 | 第64页 |
·频域求有效位数 | 第64-67页 |
·频域求有效位数的基本原理 | 第65页 |
·频域法求有效位数的条件 | 第65-67页 |
·时域求有效位数 | 第67-74页 |
·正弦曲线拟合求有效位数的基本原理 | 第67-69页 |
·正弦曲线拟合法求有效位数的测试条件 | 第69页 |
·正弦曲线拟合求有效位数的Matlab实现 | 第69-71页 |
·测试实例及结果分析 | 第71-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
结束语 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-81页 |
致谢 | 第81页 |