| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·电路板故障诊断技术的发展现状 | 第11-13页 |
| ·在线测试技术(In-Circuit Test，ICT) | 第11-12页 |
| ·可测性设计技术(Design for Testability，DFT) | 第12-13页 |
| ·测试一体化技术(test integration) | 第13页 |
| ·边界扫描测试技术的研究动态 | 第13-14页 |
| ·论文的主要内容 | 第14-16页 |
| 第二章 边界扫描测试诊断理论的研究及应用 | 第16-33页 |
| ·边界扫描测试标准的概述 | 第16页 |
| ·边界扫描测试诊断的硬件结构与控制方法 | 第16-25页 |
| ·测试存取通道 (TAP) | 第16-18页 |
| ·边界扫描寄存器(BSR) | 第18-19页 |
| ·指令寄存器(IR) | 第19-20页 |
| ·TAP控制器(TAP controller) | 第20-24页 |
| ·旁路寄存器 | 第24-25页 |
| ·边界扫描测试诊断的软件系统 | 第25-33页 |
| ·边界扫描描述语言(BSDL) | 第25-28页 |
| ·边界扫描指令系统 | 第28-33页 |
| ·采样指令(SAMPLE) | 第29页 |
| ·预装指令(PRELOAD) | 第29-30页 |
| ·外部测试指令(EXTEST) | 第30-31页 |
| ·内部测试指令(INTEST) | 第31-32页 |
| ·旁路指令(BYPASS) | 第32-33页 |
| 第三章 电路板故障诊断技术的研究 | 第33-44页 |
| ·电路板的故障模型 | 第33-35页 |
| ·呆滞型故障 | 第33-34页 |
| ·短路型故障 | 第34页 |
| ·时断型故障 | 第34-35页 |
| ·基于边界扫描技术的电路板故障测试与诊断 | 第35-44页 |
| ·布尔矩阵理论 | 第35-36页 |
| ·边界扫描测试过程的数学模型 | 第36-40页 |
| ·测试算法 | 第40-42页 |
| ·诊断 | 第42-43页 |
| ·测试步骤 | 第43-44页 |
| 第四章 无误判抗混淆诊断优化算法 | 第44-55页 |
| ·测试算法优化理论 | 第44-48页 |
| ·问题的引入 | 第44-45页 |
| ·第I类优化问题 | 第45-46页 |
| ·第II类优化问题 | 第46-47页 |
| ·测试矩阵的生成策略 | 第47-48页 |
| ·无误判抗混淆优化算法 | 第48-55页 |
| ·无误判抗混淆诊断算法的理论基础 | 第48-49页 |
| ·无误判抗混淆算法的描述 | 第49-53页 |
| ·无误判抗混淆算法性能分析 | 第53-55页 |
| 第五章 试验电路板故障诊断系统的设计与验证 | 第55-70页 |
| ·诊断系统总体设计方案 | 第55页 |
| ·诊断系统的硬件模块 | 第55-58页 |
| ·被测试电路板的设计与实现 | 第55-57页 |
| ·支持边界扫描标准芯片 | 第57页 |
| ·硬件接口电路的设计 | 第57-58页 |
| ·测试系统的软件模块设计 | 第58-63页 |
| ·扫描链完备性测试 | 第58-61页 |
| ·电路板故障测试与诊断 | 第61-63页 |
| ·测试向量集的生成 | 第61页 |
| ·无误判抗混淆算法边界扫描诊断策略 | 第61-63页 |
| ·试验电路板故障诊断结果分析 | 第63-70页 |
| ·桥接故障分析 | 第63-66页 |
| ·s-a-0故障分析 | 第66-68页 |
| ·s-a-1故障分析 | 第68-70页 |
| 第六章 结束语 | 第70-72页 |
| ·研究工作总结 | 第70-71页 |
| ·研究的创新之处 | 第71页 |
| ·有待进一步研究的问题 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 在读期间发表的论文 | 第75页 |
