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BESIII亮度监测电子学系统

中文摘要第1-4页
英文摘要第4-8页
第一章 绪论第8-16页
 第一节 BEPC和北京谱仪第8-9页
 第二节 亮度测量第9-10页
  一、亮度(Luminosity)第9-10页
  二、亮度测量原理第10页
 第三节 BESII亮度监测第10-13页
  一、监测器的硬件第10-12页
  二、亮度计算第12-13页
 第四节 BESIII亮度监测第13-16页
  一、BEPCII和BESIII第13-14页
  二、BESIII亮度监测器第14-16页
第二章 前端电子学系统研究第16-53页
 第一节 前端电子学的基本原理与结构第16-23页
  一、前端电子学的功能第16-17页
  二、探测器输出信号的基本特征第17-18页
  三、信号处理的基本方法第18-23页
 第二节 前端电子学电路设计第23-38页
  一、亮度监测器前端电子学系统结构第23-24页
  二、重要器件介绍第24-26页
  三、硬件设计第26-38页
 第三节 前端电子学系统测试第38-53页
  一、前放测试第38-43页
  二、甄别测试第43-46页
  三、整形测试第46-48页
  四、接口测试第48-53页
第三章 高速计数控制系统第53-77页
 第一节 高速计数控制技术研究第53-63页
  一、ECL电路的基本原理及互连第53-56页
  二、FPGA编程应用第56-60页
  三、CAMAC系统第60-63页
 第二节 高速计数控制CAMAC插件系统结构及硬件实现第63-77页
  一、高速计数控制CMAC插件原理图第64-68页
  二、FPGA实现并行计数及CAMAC接口第68-77页
第四章 亮度监测系统显控软件第77-86页
 第一节 亮度监测系统显控流程第77-79页
 第二节 软件实现第79-83页
  一、组件介绍第79页
  二、CAMAC通讯支持第79-81页
  三、直方图即时更新实现第81-83页
 第三节 程序界面及使用第83-86页
第五章 BESIII亮度监测电子学系统测试第86-102页
 第一节 系统测试平台第86-90页
  一、系统测试平台结构第86-87页
  二、500MHz测试信号发生器第87-89页
  三、信号调理板第89-90页
  四、同步信号的实现第90页
 第二节 测试结果及分析第90-102页
  一、系统测试的基本步骤第91-92页
  二、测试可靠性分析第92-102页
结束语第102-103页
 一、工作创新第102页
 二、工作展望第102-103页
参考文献第103-105页
附图第105-107页
致谢第107-108页
发表的学术论文第108页

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