| 第一章 绪论 | 第1-23页 |
| §1.1 研究背景 | 第8-12页 |
| §1.1.1 TFT-LCD投影显示 | 第9页 |
| §1.1.2 DLP投影显示技术 | 第9-10页 |
| §1.1.3 LCoS液晶硅投影技术 | 第10-12页 |
| §1.2 投影系统常用光源 | 第12-17页 |
| §1.2.1 氙灯 | 第12-13页 |
| §1.2.2 金属卤化物灯 | 第13页 |
| §1.2.3 LED光源 | 第13-15页 |
| §1.2.4 UHP超高压汞灯 | 第15-17页 |
| §1.3 问题的提出 | 第17-20页 |
| §1.3.1 光源光学扩展量的研究 | 第18页 |
| §1.3.2 光源数学模型的建立 | 第18-20页 |
| §1.4 论文的研究内容 | 第20-22页 |
| 【参考文献】 | 第22-23页 |
| 第二章 投影系统光源的光学扩展量分析 | 第23-35页 |
| §2.1 引言 | 第23页 |
| §2.2 光源光学扩展量分析 | 第23-33页 |
| §2.2.1 光学扩展量(etendue量)概念 | 第23-25页 |
| §2.2.2 光源光学扩展量与反光碗收集效率分析 | 第25-27页 |
| §2.2.3 光源输出光能量与光学扩展量分析及测量 | 第27-33页 |
| §2.3 小结 | 第33-34页 |
| 【参考文献】 | 第34-35页 |
| 第三章 光源参数的测量与分析 | 第35-54页 |
| §3.1 光源光谱能量分布 | 第35-36页 |
| §3.2 光源配光曲线的测量与分析 | 第36-44页 |
| §3.2.1 光源配光曲线测量原理分析 | 第38-40页 |
| §3.2.2 光源配光曲线测量方案及装置 | 第40-42页 |
| §3.2.3 光源配光曲线测量结果 | 第42-44页 |
| §3.3 光源灰度分布的测量与分析 | 第44-53页 |
| §3.3.1 光源灰度分布测量方案 | 第45-47页 |
| §3.3.2 光源灰度分布测量结果 | 第47-50页 |
| §3.3.3 光源灰度分布测量误差分析 | 第50-53页 |
| §3.4 小结 | 第53页 |
| 【参考文献】 | 第53-54页 |
| 第四章 计算机断层成像技术基本理论及算法分析 | 第54-69页 |
| §4.1 引言 | 第54页 |
| §4.2 计算机断层成像技术中的基本概念 | 第54-57页 |
| §4.2.1 投影 | 第54-55页 |
| §4.2.2 点扩展函数 | 第55-57页 |
| §4.3 反投影重建算法(累加法) | 第57-62页 |
| §4.3.1 反投影重建算法的物理概念 | 第57-58页 |
| §4.3.2 反投影重建算法的数学描述 | 第58-60页 |
| §4.3.3 正弦图 | 第60-61页 |
| §4.3.4 反投影重建算法的实现 | 第61-62页 |
| §4.4 滤波反投影重建算法 | 第62-65页 |
| §4.4.1 卷积反投影重建算法 | 第62-65页 |
| §4.4.2 卷积反投影算法的实现 | 第65页 |
| §4.5 迭代重建算法 | 第65-67页 |
| §4.6 小结 | 第67-68页 |
| 【参考文献】 | 第68-69页 |
| 第五章 利用计算机断层成像技术测量光源灰度分布 | 第69-92页 |
| §5.1 平行射束卷积反投影重建算法的计算机实现 | 第69-77页 |
| §5.1.1 滤波函数的选取 | 第69-71页 |
| §5.1.2 卷积反投影算法的计算机实现 | 第71-77页 |
| §5.2 断层成像术测量光源灰度分布的实验装置 | 第77-90页 |
| §5.2.1 光源投影数据的采集 | 第77-81页 |
| §5.2.2 光源发光截面灰度分布的还原 | 第81-85页 |
| §5.2.3 灰度分布重建结果验证 | 第85-90页 |
| §5.3 小结 | 第90-91页 |
| 【参考文献】 | 第91-92页 |
| 第六章 总结与展望 | 第92-94页 |
| 硕士期间论文发表情况 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95页 |