| 摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 图表索引 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| ·PDP 和 LCD 的比较 | 第10-11页 |
| ·彩色 PDP 的基本工作原理 | 第11-12页 |
| ·PDP 荧光粉 | 第12-13页 |
| ·PDP 粉体的相关参数 | 第13-15页 |
| ·发射光谱 | 第14页 |
| ·激发光谱 | 第14-15页 |
| ·相对亮度 | 第15页 |
| ·PDP 荧光粉参量的测试方法 | 第15-16页 |
| ·测试设备的基本结构 | 第16页 |
| ·测试设备的国内外现状 | 第16-21页 |
| 第二章 系统总体结构的研究 | 第21-38页 |
| ·光栅光谱仪基础 | 第21-27页 |
| ·光栅的衍射方程 | 第22页 |
| ·光栅特性 | 第22-25页 |
| ·闪耀光栅 | 第25-26页 |
| ·凹面衍射光栅 | 第26-27页 |
| ·激发光源 | 第27-31页 |
| ·氙灯 | 第27-28页 |
| ·汞氙灯 | 第28页 |
| ·空心阴极光源 | 第28页 |
| ·氘灯 | 第28-31页 |
| ·PDP 参数测量系统的基本光机结构 | 第31-38页 |
| ·真空紫外单色仪 | 第33页 |
| ·荧光光谱仪 | 第33-34页 |
| ·光栅扫描机构 | 第34-36页 |
| ·样品室 | 第36页 |
| ·C-T 正交平场光谱仪入缝宽度和谱线宽度的几何对应关系 | 第36-38页 |
| 第三章 PDP 测试装置电子学系统研究 | 第38-54页 |
| ·测试系统的电子学组成 | 第38-54页 |
| ·步进电机驱动器 | 第39-40页 |
| ·探测器单元 | 第40页 |
| ·定位控制单元 | 第40-41页 |
| ·数控单元 | 第41-42页 |
| ·静电计放大器设计 | 第42-49页 |
| ·静电计放大器基本电路 | 第42-43页 |
| ·程控增益静电计放大器设计 | 第43-46页 |
| ·电路的测量误差分析 | 第46-48页 |
| ·静电计的交流特性和噪声评价 | 第48-49页 |
| ·系统总体噪声 | 第49-54页 |
| 第四章 平焦场多色仪的电子学系统 | 第54-63页 |
| ·探测器的选型 | 第54-55页 |
| ·探测器驱动电路设计 | 第55-59页 |
| ·关于 CCD 信噪比的探讨 | 第59-61页 |
| ·平场光谱仪的总体噪声 | 第61-63页 |
| 第五章 PDP 参数测量方法与数据处理 | 第63-78页 |
| ·主机软件功能组成 | 第63-65页 |
| ·波长定标 | 第65-67页 |
| ·波长定标方法描述 | 第65-66页 |
| ·定标过程 | 第66-67页 |
| ·波长定标的误差分析 | 第67页 |
| ·辐射定标 | 第67-71页 |
| ·标准传递 | 第68-69页 |
| ·仪器的辐射标定 | 第69-71页 |
| ·发射谱的测量 | 第71-74页 |
| ·发射光谱测量过程 | 第71页 |
| ·发射光谱辐射修正与色坐标计算 | 第71-74页 |
| ·相对亮度测量 | 第74-76页 |
| ·亮度测量存在的问题及改进 | 第75-76页 |
| ·激发光谱测量 | 第76-78页 |
| 第六章 实验与误差分析 | 第78-99页 |
| ·色品坐标误差 | 第78-88页 |
| ·发射光谱测量误差对色坐标误差影响 | 第81-85页 |
| ·定标光源的数据误差对色坐标计算的影响 | 第85-88页 |
| ·激发光谱的测量实验 | 第88-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 第七章 总结与展望 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-106页 |
| 作者简历 | 第106-107页 |
| 发表论文 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108页 |