PCB热—力耦合可靠性实验与有限元模拟研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第6-7页 |
| ·国内外的研究综述 | 第7-9页 |
| ·电子产品的热力耦合问题的研究进展 | 第7-8页 |
| ·温度场的激光测试研究近况 | 第8-9页 |
| ·课题将要解决的问题及创新之处 | 第9-10页 |
| ·论文的工作流程 | 第10页 |
| ·论文内容安排 | 第10-12页 |
| 第二章 实验测试原理 | 第12-19页 |
| ·双曝光全息干涉法 | 第12-14页 |
| ·双曝光全息干涉法的基本原理 | 第12页 |
| ·双曝光全息法的数学描述 | 第12-13页 |
| ·双曝光全息干涉法的特点 | 第13-14页 |
| ·实时全息法(一次曝光法) | 第14-15页 |
| ·实时全息法的基本原理 | 第14页 |
| ·实时全息干涉法的数学描述 | 第14-15页 |
| ·条纹调制度的提高 | 第15-16页 |
| ·温度场激光干涉测试理论 | 第16-18页 |
| ·马赫-曾德干涉仪 | 第16-17页 |
| ·温度场的激光干涉测试原理 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 实验系统及实验 | 第19-23页 |
| ·试件及实验条件 | 第19页 |
| ·实时全息干涉测量实验与计算机实时条纹处理系统 | 第19-21页 |
| ·实时全息干涉记录程序与系统 | 第19-20页 |
| ·实验测试关键 | 第20-21页 |
| ·二次曝光全息测量法的程序与系统 | 第21页 |
| ·温度场的测试系统及方法 | 第21-22页 |
| ·温度场的测试系统 | 第21页 |
| ·温度场的测试系统实验调节步骤 | 第21-22页 |
| ·条纹处理软件的基本特点 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第四章 实验结果及其分析 | 第23-36页 |
| ·热变形的全息干涉测量结果 | 第23-30页 |
| ·全息干涉条纹图及分析 | 第23-24页 |
| ·干涉条纹的数据处理结果 | 第24-29页 |
| ·对功率放大器的实验分析 | 第29页 |
| ·热变形全息干涉结果小结 | 第29-30页 |
| ·温度场的马赫-曾德实验测试及其结果分析 | 第30-34页 |
| ·试件温度场的光学干涉条纹图像 | 第30-32页 |
| ·温度场干涉图处理结果与分析 | 第32-33页 |
| ·温度场光学干涉测量的结论 | 第33页 |
| ·温度与电子器件的失效问题 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第五章 PCB的有限元分析 | 第36-46页 |
| ·ANSYS求解基本原理 | 第36页 |
| ·热分析中的基本传热方式 | 第36-37页 |
| ·有限元热分析的基本类型 | 第37-38页 |
| ·稳态传热分析 | 第37页 |
| ·瞬态传热分析 | 第37页 |
| ·耦合场分析 | 第37-38页 |
| ·热应力有限元分析 | 第38-39页 |
| ·BJ016E功率放大器的有限元分析 | 第39-44页 |
| ·器件的表面上方流场的有限元模拟 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第六章 全文总结 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 声明 | 第51页 |
| 关于论文使用授权的说明 | 第51页 |
| 作者在攻读学位期间发表的论文 | 第51页 |
