短波红外成像光谱仪电子学关键技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·红外成像技术发展概况 | 第8页 |
| ·短波红外探测器的研究进展 | 第8-11页 |
| ·超光谱成像仪的研究进展 | 第11-12页 |
| ·选题背景及意义 | 第12页 |
| ·本文研究的内容 | 第12-14页 |
| 第二章 红外成像的基本原理 | 第14-32页 |
| ·红外辐射及其在大气中的传输 | 第14-16页 |
| ·红外辐射特性与规律 | 第14-15页 |
| ·大气对红外辐射传输的影响 | 第15-16页 |
| ·红外光学系统 | 第16-17页 |
| ·红外光学材料 | 第17-18页 |
| ·红外图像的特点及其噪声 | 第18-20页 |
| ·红外图像特点 | 第18-19页 |
| ·红外图像的噪声分析 | 第19-20页 |
| ·红外焦平面器件响应的非均匀性 | 第20-29页 |
| ·非均匀性的定义 | 第22-23页 |
| ·非均匀性产生的原因 | 第23-25页 |
| ·像元响应的非均匀性 | 第25-28页 |
| ·非均匀性的校正算法 | 第28-29页 |
| ·盲元检测及补偿 | 第29-30页 |
| ·红外图像增强 | 第30-32页 |
| 第三章 成像系统信号处理电路设计 | 第32-48页 |
| ·成像系统电路总体结构 | 第32-33页 |
| ·红外焦平面组件 | 第33-42页 |
| ·焦平面器件的选型 | 第33-34页 |
| ·焦平面的工作时序 | 第34-35页 |
| ·焦平面的寄存器设置 | 第35页 |
| ·焦平面的制冷组件 | 第35-36页 |
| ·帧频论证 | 第36-37页 |
| ·驱动电路的设计 | 第37-41页 |
| ·FPGA器件选型 | 第37-39页 |
| ·驱动时序设计 | 第39-40页 |
| ·下载配置 | 第40-41页 |
| ·时序控制信号输入驱动 | 第41-42页 |
| ·红外信号处理器 | 第42-47页 |
| ·增益控制 | 第43页 |
| ·模数转换 | 第43-44页 |
| ·红外探测器信号调理输出 | 第44-45页 |
| ·低压差分数据传输 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 红外焦平面器件非均匀性校正 | 第48-66页 |
| ·IRFPA器件非均匀性校正模型分析 | 第48-49页 |
| ·非均匀性校正算法仿真技术 | 第49-50页 |
| ·基于场景的非均匀性校正算法 | 第50-55页 |
| ·全局非均匀性校正算法 | 第50-51页 |
| ·恒定统计法 | 第51-52页 |
| ·时域高通滤波算法 | 第52-54页 |
| ·人工神经网络法 | 第54-55页 |
| ·基于参照元的非均匀性校正算法 | 第55-62页 |
| ·一点定标校正算法 | 第55-56页 |
| ·两点定标校正算法 | 第56-58页 |
| ·两点多段定标校正算法 | 第58-60页 |
| ·三次样条插值校正算法 | 第60页 |
| ·最小二乘拟和校正算法 | 第60-62页 |
| ·非均匀校正算法比较 | 第62-63页 |
| ·温度漂移的校正 | 第63-64页 |
| ·响应特性的温度漂移 | 第63-64页 |
| ·自适应多点校正算法去除温漂 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第五章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 发表或已录用论文 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
