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大功率IGBT电流型闭环有源门极驱动关键技术研究

致谢第5-7页
摘要第7-9页
Abstract第9-10页
第一章 绪论第13-33页
    1.1 研究背景第13-18页
        1.1.1 IGBT在大功率变流系统中的应用第13-15页
        1.1.2 IGBT应用中存在的问题第15-16页
        1.1.3 传统门极驱动的局限性第16-18页
    1.2 IGBT门极驱动技术综述第18-29页
        1.2.1 开环门极驱动第19-24页
        1.2.2 闭环门极驱动第24-27页
        1.2.3 闭环门极驱动应用中存在的问题第27-29页
    1.3 本文的选题意义及主要研究内容第29-33页
        1.3.1 本文的选题意义第29-31页
        1.3.2 本文的主要研究内容第31-33页
第二章 电流型闭环有源门极驱动技术第33-65页
    2.1 引言第33页
    2.2 IGBT开关瞬态应力及损耗分析第33-36页
        2.2.1 开关应力与损耗理论分析第33-36页
        2.2.2 开关瞬态各阶段损耗实验测试第36页
    2.3 电流型闭环有源门极驱动工作原理第36-42页
        2.3.1 驱动电流源设计第37-38页
        2.3.2 di_C/dt和dv_C/dt信号检测电路第38-39页
        2.3.3 反馈电路设计第39-42页
    2.4 实验验证第42-52页
        2.4.1 双脉冲测试平台第42-45页
        2.4.2 反馈电路响应时间第45-46页
        2.4.3 开通瞬态控制第46-48页
        2.4.4 关断瞬态控制第48-50页
        2.4.5 不同电流等级下的控制特性第50-51页
        2.4.6 ACSD控制性能总结第51-52页
    2.5 基于ACSD的短路保护方法第52-63页
        2.5.1 短路类型及保护方式第52-56页
        2.5.2 工作原理第56-58页
        2.5.3 实验验证第58-63页
        2.5.4 短路保护总结第63页
    2.6 本章小结第63-65页
第三章 ACSD建模与稳定性分析第65-88页
    3.1 引言第65页
    3.2 控制系统建模第65-78页
        3.2.1 di_C/dt控制反馈电路建模第67-69页
        3.2.2 dv_C/dt控制反馈电路建模第69-71页
        3.2.3 IGBT小信号建模第71-72页
        3.2.4 控制框图和参数提取第72-75页
        3.2.5 IGBT模型简化第75-76页
        3.2.6 L_e对di_C/dt和dv_C/dt出检测的影响第76-78页
    3.3 关键参数对稳定性的影响与实验验证第78-86页
        3.3.1 关键参数对di_C/dt出控制稳定性的影响第78-80页
        3.3.2 关键参数对dv_C/dt控制稳定性的影响第80-83页
        3.3.3 L_e对稳定性的影响第83-85页
        3.3.4 关于稳定性补偿的讨论第85-86页
    3.4 本章小结第86-88页
第四章 桥臂电路应用中的串扰分析与抑制第88-105页
    4.1 引言第88页
    4.2 ACSD串扰分析模型第88-96页
        4.2.1 FB串扰发生的基本机制第89-90页
        4.2.2 ACSD串扰分析第90-96页
    4.3 串扰抑制电路设计第96-98页
    4.4 实验验证第98-104页
        4.4.1 串扰分析验证第99-100页
        4.4.2 VCCS2反馈电路损耗第100-101页
        4.4.3 CTS延时时间第101-103页
        4.4.4 CTS控制性能第103-104页
    4.5 本章小结第104-105页
第五章 基于自适应ACSD的损耗优化方法第105-118页
    5.1 引言第105页
    5.2 自适应ACSD工作原理第105-109页
        5.2.1 基于门极驱动控制的损耗优化方法第105-108页
        5.2.2 自适应ACSD工作原理第108页
        5.2.3 信号采样与处理第108-109页
    5.3 仿真验证第109-113页
        5.3.1 负载电流采样电路性能第110页
        5.3.2 不同门极驱动方式性能对比第110-112页
        5.3.3 自适应ACSD损耗优化仿真验证第112-113页
    5.4 实验验证第113-116页
        5.4.1 Buck电路设计第113-115页
        5.4.2 实验结果第115-116页
    5.5 本章小结第116-118页
第六章 结论与展望第118-122页
    6.1 工作总结第118-120页
    6.2 课题展望第120-122页
参考文献第122-129页
攻读博士学位期间研究成果第129页

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