中文摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第16-33页 |
1.1 引言 | 第16页 |
1.2 表面等离激元 | 第16-17页 |
1.3 表面等离激元谐振的应用 | 第17-29页 |
1.3.1 基于SPR原理的传感技术 | 第18-22页 |
1.3.2 基于SPR原理的金属薄膜色散特性检测技术 | 第22-25页 |
1.3.3 激发表面等离激元的薄膜 | 第25-29页 |
1.4 论文研究的目的与意义 | 第29-30页 |
1.5 论文研究的主要内容 | 第30-33页 |
第2章 表面等离激元谐振的基本原理 | 第33-53页 |
2.1 引言 | 第33页 |
2.2 光的反射和折射 | 第33-35页 |
2.3 金属的光学性质 | 第35-44页 |
2.3.1 金属的色散 | 第35-38页 |
2.3.2 光在金属表面的反射和折射 | 第38-44页 |
2.4 表面等离激元谐振条件 | 第44-49页 |
2.5 Kretschmann结构中SPR的激发过程 | 第49-52页 |
2.6 本章小结 | 第52-53页 |
第3章 基于表面等离激元谐振原理的薄膜色散特性确定方法 | 第53-73页 |
3.1 引言 | 第53页 |
3.2 影响SPR角度谐振谱线的因素 | 第53-56页 |
3.3 基于角度谐振原理的薄膜介电常数确定方法 | 第56-66页 |
3.3.1 金属薄膜 | 第56-60页 |
3.3.2 覆盖层薄膜 | 第60-66页 |
3.4 基于波长谐振原理的薄膜色散特性确定方法 | 第66-72页 |
3.5 本章小结 | 第72-73页 |
第4章 表面等离激元谐振检测装置 | 第73-101页 |
4.1 引言 | 第73页 |
4.2 SPR实验装置 | 第73-100页 |
4.2.1 SPR角度谐振检测装置 | 第73-83页 |
4.2.2 SPR波长谐振检测装置 | 第83-98页 |
4.2.3 SPR角度、波长谐振检测装置 | 第98-100页 |
4.3 本章小结 | 第100-101页 |
第5章 Cu基与Ag基膜系色散特性及传感特性 | 第101-126页 |
5.1 引言 | 第101页 |
5.2 Cu、Ag膜 | 第101-110页 |
5.2.1 Cu、Ag膜色散特性的测量 | 第101-106页 |
5.2.2 Cu、Ag膜灵敏度分析 | 第106-110页 |
5.3 Cu/TiO_2薄膜 | 第110-120页 |
5.3.1 Cu/TiO_2薄膜色散特性的测量 | 第111-117页 |
5.3.2 Cu/TiO_2薄膜灵敏度分析 | 第117-120页 |
5.4 Ag/TiO_2薄膜 | 第120-125页 |
5.4.1 Ag/TiO_2薄膜色散特性的测量 | 第120-124页 |
5.4.2 Ag/TiO_2薄膜灵敏度分析 | 第124-125页 |
5.5 本章小结 | 第125-126页 |
第6章 棱镜基宽带反射式TM偏振薄膜 | 第126-147页 |
6.1 引言 | 第126-127页 |
6.2 基于铬/二氧化硅薄膜的宽带反射式TM偏振薄膜 | 第127-134页 |
6.3 基于银/铬/二氧化钛薄膜的宽带反射式TM偏振薄膜 | 第134-142页 |
6.4 偏振器集成型Kretchmann结构 | 第142-146页 |
6.5 本章小结 | 第146-147页 |
结论 | 第147-149页 |
参考文献 | 第149-165页 |
致谢 | 第165-166页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第166-167页 |