MEMS数字加速度计测试系统研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第13-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-25页 |
| 1.1 论文研究背景及意义 | 第19页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第19-20页 |
| 1.3 论文内容与结构安排 | 第20-25页 |
| 第二章 数字加速度计工作原理及测量模型 | 第25-57页 |
| 2.1 数字加速度计原理 | 第25-32页 |
| 2.1.1 MPU6050内部三轴数字加速度计 | 第25-27页 |
| 2.1.2 三轴加速度采集 | 第27-28页 |
| 2.1.3 A/D转换 | 第28页 |
| 2.1.4 数字低通滤波 | 第28-32页 |
| 2.1.5 三轴数字加速度数据存储 | 第32页 |
| 2.2 加速度计测量模型 | 第32-37页 |
| 2.2.1 静态六位置测量模型 | 第32-33页 |
| 2.2.2 拟合椭球测量模型 | 第33-34页 |
| 2.2.3 静态矩阵测量模型 | 第34-37页 |
| 2.3 最小二乘法 | 第37-38页 |
| 2.4 测量方法的MATLAB数据仿真 | 第38-56页 |
| 2.4.1 静态六位置测量算法仿真 | 第38-43页 |
| 2.4.2 静态拟合椭球算法仿真 | 第43-50页 |
| 2.4.3 静态矩阵测试算法仿真 | 第50-56页 |
| 2.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第三章 测试系统硬件电路设计 | 第57-73页 |
| 3.1 MEMS测试系统硬件电路模块 | 第57-58页 |
| 3.2 STM32F-407处理器介绍 | 第58-59页 |
| 3.3 数据处理和控制模块 | 第59-68页 |
| 3.3.1 时钟电路 | 第59-60页 |
| 3.3.2 复位电路 | 第60页 |
| 3.3.3 电源控制模块 | 第60-61页 |
| 3.3.4 JTAG电路 | 第61-62页 |
| 3.3.5 FLASH存储电路 | 第62-64页 |
| 3.3.6 EEPROM电路 | 第64-66页 |
| 3.3.7 数据显示电路 | 第66-67页 |
| 3.3.8 数据传输电路 | 第67-68页 |
| 3.4 MPU6050模块 | 第68-71页 |
| 3.5 本章小结 | 第71-73页 |
| 第四章 测试系统软件设计 | 第73-91页 |
| 4.1 软件开发环境介绍 | 第73-75页 |
| 4.1.1 MDK开发环境简介 | 第73-74页 |
| 4.1.2 Labview软件开发环境简介 | 第74-75页 |
| 4.2 系统主程序设计 | 第75页 |
| 4.3 下位机程序设计 | 第75-83页 |
| 4.3.1 下位机主程序 | 第76页 |
| 4.3.2 系统初始化 | 第76-77页 |
| 4.3.3 系统自检测 | 第77-78页 |
| 4.3.4 三轴数字加速度数据采集 | 第78-79页 |
| 4.3.5 三轴数字加速度数据上报 | 第79-80页 |
| 4.3.6 数据存储 | 第80-81页 |
| 4.3.7 数据显示 | 第81-82页 |
| 4.3.8 数据处理与参数显示 | 第82-83页 |
| 4.4 上位机系统 | 第83-90页 |
| 4.4.1 上位机主程序 | 第84-85页 |
| 4.4.2 数据接收和回控 | 第85-86页 |
| 4.4.3 数据分离 | 第86-87页 |
| 4.4.4 数据显示 | 第87-88页 |
| 4.4.5 数据存储 | 第88-89页 |
| 4.4.6 数据处理 | 第89-90页 |
| 4.5 本章小结 | 第90-91页 |
| 第五章 测试系统调试 | 第91-109页 |
| 5.1 模块自检 | 第91-95页 |
| 5.1.1 MPU6050模块自检 | 第91-92页 |
| 5.1.2 IIC通信自检 | 第92-93页 |
| 5.1.3 FLASH存储自检 | 第93-94页 |
| 5.1.4 上位机通信自检 | 第94-95页 |
| 5.2 整体系统测试 | 第95-108页 |
| 5.3 误差分析 | 第108页 |
| 5.4 本章小结 | 第108-109页 |
| 第六章 总结与展望 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-115页 |
| 致谢 | 第115-117页 |
| 作者简介 | 第117-118页 |
