| 摘要 | 第5-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第19-39页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第19-20页 |
| 1.2 传统偏振光谱成像系统的研究进展 | 第20-29页 |
| 1.2.1 国外研究进展 | 第20-26页 |
| 1.2.2 国内研究进展 | 第26-29页 |
| 1.3 强度调制型偏振光谱成像系统的研究进展及现状分析 | 第29-35页 |
| 1.3.1 研究进展 | 第29-35页 |
| 1.3.2 研究现状分析 | 第35页 |
| 1.4 本文研究内容和章节安排 | 第35-39页 |
| 第2章 强度调制型偏振光谱成像基本理论及技术研究 | 第39-65页 |
| 2.1 偏振成像基本理论及技术 | 第39-46页 |
| 2.1.1 偏振光描述方法 | 第39-43页 |
| 2.1.2 典型偏振元件的穆勒矩阵 | 第43-45页 |
| 2.1.3 偏振成像技术对比 | 第45-46页 |
| 2.2 光谱成像基本理论及技术 | 第46-50页 |
| 2.2.1 计算层析光谱成像技术 | 第46-47页 |
| 2.2.2 傅里叶变换光谱成像技术 | 第47-48页 |
| 2.2.3 色散型光谱成像技术 | 第48-50页 |
| 2.3 强度调制型偏振光谱成像技术研究 | 第50-63页 |
| 2.3.1 偏振光谱强度调制原理 | 第51-53页 |
| 2.3.2 斯托克斯光谱复原方法 | 第53-57页 |
| 2.3.3 多级波片厚度设计 | 第57-60页 |
| 2.3.4 光学系统方案 | 第60-63页 |
| 2.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 第3章 强度调制模块的偏振误差研究 | 第65-93页 |
| 3.1 强度调制模块偏振误差与测量误差的定量化分析 | 第65-69页 |
| 3.2 强度调制模块偏振误差的标定方法研究 | 第69-79页 |
| 3.2.1 偏振元件方位角误差的标定 | 第69-75页 |
| 3.2.2 多级波片相位延迟量误差的标定 | 第75-79页 |
| 3.3 强度调制模块偏振误差的补偿算法研究 | 第79-82页 |
| 3.4 强度调制模块偏振误差标定及补偿方法的分析与验证 | 第82-92页 |
| 3.4.1 仿真分析 | 第82-87页 |
| 3.4.2 实验验证 | 第87-92页 |
| 3.5 本章小结 | 第92-93页 |
| 第4章 强度调制型偏振光谱成像系统的光学系统偏振效应研究 | 第93-117页 |
| 4.1 光学系统偏振效应对测量误差的影响 | 第93-97页 |
| 4.1.1 光学系统偏振效应的表述 | 第93-95页 |
| 4.1.2 光学系统偏振效应与测量误差的定量化分析 | 第95-97页 |
| 4.2 光学系统的偏振效应分析 | 第97-110页 |
| 4.2.1 透镜及反射镜界面的偏振效应分析 | 第98-103页 |
| 4.2.2 衍射光栅的偏振特性研究 | 第103-110页 |
| 4.3 保偏光学系统设计方法 | 第110-115页 |
| 4.4 本章小结 | 第115-117页 |
| 第5章 强度调制型偏振光谱成像系统的偏振定标方法 | 第117-153页 |
| 5.1 全系统偏振辐射传输模型的建立 | 第117-131页 |
| 5.1.1 系统模块化建模方法的理论推导与分析 | 第117-123页 |
| 5.1.2 强度调制模块的倾斜入射模型 | 第123-128页 |
| 5.1.3 基于穆勒矩阵传递法的全系统偏振辐射传输建模 | 第128-131页 |
| 5.2 系统偏振定标方法研究 | 第131-139页 |
| 5.2.1 系统偏振参数的标定 | 第131-137页 |
| 5.2.2 斯托克斯光谱复原方法的改进 | 第137-139页 |
| 5.3 系统偏振定标方法的分析与验证 | 第139-150页 |
| 5.3.1 仿真分析 | 第139-146页 |
| 5.3.2 实验验证 | 第146-150页 |
| 5.4 本章小结 | 第150-153页 |
| 第6章 总结与展望 | 第153-157页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第153-155页 |
| 6.2 论文创新点 | 第155页 |
| 6.3 研究展望 | 第155-157页 |
| 参考文献 | 第157-165页 |
| 致谢 | 第165-167页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第167-168页 |
