高定位准确度的光纤断点检测装置设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 光纤检测技术简介 | 第11-12页 |
| 1.2 光纤故障检测技术发展 | 第12-14页 |
| 1.2.1 脉冲法OTDR | 第13页 |
| 1.2.2 光子计数法OTDR | 第13-14页 |
| 1.2.3 相干法OTDR | 第14页 |
| 1.3 研究目的和意义 | 第14页 |
| 1.4 本文主要内容 | 第14-16页 |
| 第二章 光纤断点检测仪工作原理及方案设计 | 第16-26页 |
| 2.1 光纤断点检测仪基本结构 | 第16页 |
| 2.2 光纤断点检测仪工作原理 | 第16-17页 |
| 2.3 光纤断点检测仪设计指标 | 第17-24页 |
| 2.3.1 定位精度分析 | 第18-20页 |
| 2.3.2 测量范围分析 | 第20-24页 |
| 2.4 方案设计 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 光纤断点检测仪接收电路设计及性能分析 | 第26-43页 |
| 3.1 光纤断点检测仪虚警概率 | 第26-27页 |
| 3.2 光电转换电路 | 第27-30页 |
| 3.2.1 光电二极管工作原理 | 第27页 |
| 3.2.2 光电二极管性能分析 | 第27-29页 |
| 3.2.3 光电转换电路设计 | 第29-30页 |
| 3.3 前端放大器 | 第30-37页 |
| 3.3.1 前端放大器噪声分析 | 第31-32页 |
| 3.3.2 前端放大器方案选择 | 第32-35页 |
| 3.3.3 跨阻放大设计 | 第35页 |
| 3.3.4 自激振荡消除设计 | 第35-37页 |
| 3.4 可变增益放大器 | 第37-40页 |
| 3.4.1 可变增益放大器设计 | 第38-39页 |
| 3.4.2 程控增益放大器的延时差异 | 第39-40页 |
| 3.5 数模转换电路设计 | 第40-41页 |
| 3.6 通信接口电路设计 | 第41-42页 |
| 3.6.1 RS422通信介绍 | 第41页 |
| 3.6.2 RS422通信电路设计 | 第41-42页 |
| 3.7 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 时刻鉴别电路设计 | 第43-52页 |
| 4.1 时刻鉴别法分析 | 第43-45页 |
| 4.1.1 前沿时刻鉴别法 | 第43-44页 |
| 4.1.2 过零时刻鉴别法 | 第44页 |
| 4.1.3 恒定比值时刻鉴别法 | 第44-45页 |
| 4.2 恒定比值时刻鉴别设计和仿真 | 第45-48页 |
| 4.2.1 恒定比值时刻鉴别原理 | 第45-46页 |
| 4.2.2 恒定比值时刻鉴别电路仿真设计 | 第46-47页 |
| 4.2.3 恒定比值时刻鉴别电路仿真 | 第47-48页 |
| 4.3 恒定比值时刻鉴别电路误差分析 | 第48-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 时间计量模块与单片机控制模块 | 第52-63页 |
| 5.1 高精度时间计量方法 | 第52-53页 |
| 5.2 时间计量模块 | 第53-59页 |
| 5.2.1 TDC-GP21工作原理及功能描述 | 第53-54页 |
| 5.2.2 TDC-GP21硬件电路设计 | 第54-55页 |
| 5.2.3 TDC-GP21寄存器配置 | 第55-59页 |
| 5.3 单片机控制控制模块 | 第59-62页 |
| 5.3.1 单片机硬件电路设计 | 第59-60页 |
| 5.3.2 单片机软件设计 | 第60-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 实验测试与误差分析 | 第63-73页 |
| 6.1 实验测试 | 第63-68页 |
| 6.2 误差分析 | 第68-72页 |
| 6.2.1 漂移误差 | 第69-70页 |
| 6.2.2 光速误差 | 第70页 |
| 6.2.3 计时分辨率误差 | 第70-71页 |
| 6.2.4 芯片抖动误差 | 第71页 |
| 6.2.5 时间抖动误差 | 第71页 |
| 6.2.6 误差合成 | 第71-72页 |
| 6.3 本章总结 | 第72-73页 |
| 第七章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 7.1 论文总结 | 第73页 |
| 7.2 研究展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 附录 | 第78-81页 |
