| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.1 电力电子设备可靠性分析的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.2 IGBT老化分析的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 基于结温测量的IGBT老化状态监测方法研究 | 第14-29页 |
| 2.1 IGBT的基本结构和老化原理 | 第14-17页 |
| 2.1.1 IGBT的基本结构 | 第14-15页 |
| 2.1.2 老化失效机理分析 | 第15-17页 |
| 2.2 温度对物理参数的影响 | 第17-21页 |
| 2.2.1 开关速度 | 第17-20页 |
| 2.2.2 阈值电压 | 第20-21页 |
| 2.2.3 通态压降 | 第21页 |
| 2.3 基于导通压降的温敏参数测量法 | 第21-28页 |
| 2.3.1 基于传统温敏参数法的改进方法 | 第21-22页 |
| 2.3.2 改进TSP法的仿真分析 | 第22-27页 |
| 2.3.3 改进TSP法的实验验证 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 IGBT老化过程的建模及仿真分析 | 第29-40页 |
| 3.1 IGBT的电气模型 | 第29-34页 |
| 3.1.1 IGBT等效电路 | 第29-31页 |
| 3.1.2 模型参数提取 | 第31-34页 |
| 3.2 模型的有效性验证 | 第34-36页 |
| 3.3 IGBT的老化过程仿真 | 第36-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 IGBT加速老化实验设计 | 第40-52页 |
| 4.1 加速老化实验平台的设计 | 第40-42页 |
| 4.2 恒温加速老化实验 | 第42-44页 |
| 4.3 变温加速老化实验 | 第44-46页 |
| 4.4 老化对IGBT特性参数的影响分析 | 第46-50页 |
| 4.4.1 IGBT主要特性参数变化 | 第46-48页 |
| 4.4.2 IGBT开通关断速度变化 | 第48-49页 |
| 4.4.3 IGBT热阻的变化 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第5章 IGBT老化对全桥逆变器的影响分析 | 第52-60页 |
| 5.1 实验电路的设计 | 第52-54页 |
| 5.2 IGBT老化对电路影响的仿真分析 | 第54-56页 |
| 5.3 IGBT老化对电路影响的实验分析 | 第56-58页 |
| 5.4 本章小结 | 第58-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69页 |