基于PXI总线平台的继电器控制盒综合测试系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题来源 | 第9页 |
| 1.2 课题研究背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.3 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-15页 |
| 1.3.1 继电器盒检测的国内外现状 | 第10-13页 |
| 1.3.2 自动测试系统的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 测试平台总体结构设计 | 第16-23页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 检测平台技术要求 | 第16-17页 |
| 2.3 测试系统功能设计 | 第17页 |
| 2.4 系统结构设计 | 第17-22页 |
| 2.4.1 系统功能结构总体设计 | 第17-19页 |
| 2.4.2 测试系统硬件介绍 | 第19-21页 |
| 2.4.3 软件方案设计 | 第21-22页 |
| 2.4.4 设计难点 | 第22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 硬件系统结构设计 | 第23-51页 |
| 3.1 引言 | 第23页 |
| 3.2 测试项目分析 | 第23-40页 |
| 3.2.1 继电器控制盒逻辑关系测试 | 第23-26页 |
| 3.2.2 继电器控制盒动作电压测试 | 第26-28页 |
| 3.2.3 继电器控制盒线圈电流测试 | 第28-29页 |
| 3.2.4 继电器控制盒内部电阻测试 | 第29-32页 |
| 3.2.5 继电器控制盒触点电阻测试 | 第32-38页 |
| 3.2.6 继电器控制盒信号延迟时间测试 | 第38-39页 |
| 3.2.7 测试系统电源模块的分析 | 第39页 |
| 3.2.8 自动测试实现 | 第39-40页 |
| 3.3 测试真值表设计 | 第40-42页 |
| 3.3.1 测试项目汇总 | 第40页 |
| 3.3.2 测试真值表设计 | 第40-42页 |
| 3.4 控制矩阵的设计 | 第42-47页 |
| 3.4.1 矩阵开关的技术要求 | 第42页 |
| 3.4.2 继电器矩阵开关硬件设计 | 第42-47页 |
| 3.5 PXI 采集卡 | 第47-49页 |
| 3.5.1 PXI 板卡的选取 | 第47-48页 |
| 3.5.2 多功能数据采集卡 | 第48-49页 |
| 3.5.3 结构设计 | 第49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第4章 客户端软件系统设计 | 第51-60页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 软件客户端的总体结构设计 | 第51-54页 |
| 4.2.1 控制结构设计 | 第51页 |
| 4.2.2 测试流程设计 | 第51-53页 |
| 4.2.3 上下位机通讯程序设计 | 第53-54页 |
| 4.3 用户界面设计与实现 | 第54-59页 |
| 4.3.1 用户界面整体结构设计 | 第54-55页 |
| 4.3.2 用户界主界面设计 | 第55-56页 |
| 4.3.3 产品信息功能实现 | 第56页 |
| 4.3.4 测试功能实现 | 第56-57页 |
| 4.3.5 二次开发功能 | 第57-58页 |
| 4.3.6 测试结果处理信息功能实现 | 第58-59页 |
| 4.4 小结 | 第59-60页 |
| 第5章 测试结果分析 | 第60-64页 |
| 5.1 引言 | 第60页 |
| 5.2 测试安全型分析 | 第60页 |
| 5.3 各项测试结果分析 | 第60-63页 |
| 5.4 结论 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 附录 | 第71-87页 |
| 附录 1 继电器控制盒 | 第71-75页 |
| 附录 2 继电器控制盒测试真值表 | 第75-87页 |
