| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 粒子场测量的意义及测量方法 | 第8-9页 |
| 1.2 激光干涉成像测量技术的国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.3 课题来源和论文主要工作 | 第11-12页 |
| 1.4 小结 | 第12-13页 |
| 第二章 激光干涉成像测量技术的基本原理 | 第13-31页 |
| 2.1 激光干涉成像测量基本原理 | 第13-14页 |
| 2.2 粒子散射光强分布计算 | 第14-16页 |
| 2.3 激光干涉粒子成像(IPI)测量公式 | 第16-20页 |
| 2.3.1 m>1 | 第17-19页 |
| 2.3.2 m<1 | 第19-20页 |
| 2.4 全相位多普勒测量技术(GPD) | 第20-22页 |
| 2.5 IPI 公式的适用范围 | 第22-29页 |
| 2.5.1 散射角的范围 | 第24-28页 |
| 2.5.2 Mie 理论与GOM 计算公式的比较 | 第28-29页 |
| 2.5.3 多种介质时条纹角间距的修正 | 第29页 |
| 2.6 小结 | 第29-31页 |
| 第三章 激光干涉成像测量系统分析 | 第31-52页 |
| 3.1 激光干涉成像技术的测量极限 | 第31-40页 |
| 3.1.1 成像光路系统 | 第31-32页 |
| 3.1.2 粒子干涉条纹图像的尺寸 | 第32-33页 |
| 3.1.3 可测粒径范围 | 第33-34页 |
| 3.1.4 最大可测粒子密度 | 第34-35页 |
| 3.1.5 系统测量分析 | 第35-40页 |
| 3.2 激光干涉成像测量不确定性分析 | 第40-50页 |
| 3.2.1 转换因子? 的不确定性分析 | 第41-45页 |
| 3.2.2 条纹频率F 的不确定性分析 | 第45-46页 |
| 3.2.3 校准常数C_(pix/rad)的不确定性分析 | 第46-50页 |
| 3.3 设计最优化实验测量系统 | 第50-51页 |
| 3.4 小结 | 第51-52页 |
| 第四章 激光干涉图像的处理算法 | 第52-71页 |
| 4.1 引言 | 第52-53页 |
| 4.2 基于小波匹配的粒子干涉条纹图样定位算法 | 第53-63页 |
| 4.2.1 小波变换的基本原理 | 第53-54页 |
| 4.2.2 图像边缘增强 | 第54-58页 |
| 4.2.3 小波匹配定位算法 | 第58-59页 |
| 4.2.4 粒子干涉条纹图像的定位及识别率分析 | 第59-63页 |
| 4.3 基于傅立叶变换技术的条纹频率提取算法 | 第63-70页 |
| 4.3.1 修正Rife 算法基本原理 | 第64-66页 |
| 4.3.2 1D 正弦波频率估计的算法模拟及精确度分析 | 第66-68页 |
| 4.3.3 粒子干涉条纹频率提取精确度分析 | 第68-70页 |
| 4.4 小结 | 第70-71页 |
| 第五章 喷雾粒子场激光干涉粒子成像测量 | 第71-101页 |
| 5.1 标准粒子场测量 | 第71-76页 |
| 5.1.1 光路系统搭建 | 第71-73页 |
| 5.1.2 实验及结果分析 | 第73-76页 |
| 5.2 乙醇喷雾场测量 | 第76-87页 |
| 5.2.1 光路系统设置 | 第76-78页 |
| 5.2.2 乙醇喷雾场测量及结果分析 | 第78-87页 |
| 5.3 水喷雾场测量 | 第87-94页 |
| 5.3.1 沿X 轴方向粒子的SMD 粒径分布 | 第89-92页 |
| 5.3.2 沿Y 轴方向粒子的SMD 粒径分布 | 第92-94页 |
| 5.4 全相位多普勒技术测量实验 | 第94-100页 |
| 5.4.1 基于点模式的粒子尺寸测量 | 第97-99页 |
| 5.4.2 基于条纹模式的粒子尺寸测量 | 第99-100页 |
| 5.5 小结 | 第100-101页 |
| 第六章 总结与展望 | 第101-103页 |
| 6.1 论文主要研究成果 | 第101-102页 |
| 6.2 工作展望 | 第102-103页 |
| 参考文献 | 第103-107页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第107-108页 |
| 致谢 | 第108页 |