| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 设计背景 | 第7页 |
| 1.2 CMOS图像传感器简介 | 第7-9页 |
| 1.3 低功耗CMOS图像传感器发展现状 | 第9-10页 |
| 1.4 CMOS图像传感器ADC集成方法 | 第10-12页 |
| 1.5 本文结构 | 第12-13页 |
| 第二章 ADC性能指标及各种ADC介绍 | 第13-24页 |
| 2.1 ADC性能指标 | 第13-17页 |
| 2.1.1 ADC的静态特性参数 | 第13-15页 |
| 2.1.2 ADC的动态特性参数 | 第15-17页 |
| 2.2 各种ADC介绍 | 第17-23页 |
| 2.2.1 全并行ADC | 第17-18页 |
| 2.2.2 两步式ADC | 第18-19页 |
| 2.2.3 子区间ADC | 第19-20页 |
| 2.2.4 连续逼近ADC | 第20页 |
| 2.2.5 复循环式ADC | 第20-21页 |
| 2.2.6 过采样ADC | 第21-22页 |
| 2.2.7 流水线ADC | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 流水线ADC采样保持电路设计 | 第24-46页 |
| 3.1 开关采样电路 | 第24-30页 |
| 3.1.1 MOS管开关精度问题 | 第24-27页 |
| 3.1.2 开关电荷注入抵消 | 第27-29页 |
| 3.1.3 下极板采样技术 | 第29-30页 |
| 3.2 采样保持电路设计 | 第30-39页 |
| 3.2.1 采样保持电路结构 | 第30-33页 |
| 3.2.2 采样电容的选取 | 第33-35页 |
| 3.2.3 采样保持电路参数估算 | 第35-36页 |
| 3.2.4 增益增强技术 | 第36-39页 |
| 3.3 采样保持电路闭环特性仿真 | 第39-42页 |
| 3.3.1 开关电容共模反馈 | 第39-41页 |
| 3.3.2 瞬态特性仿真结果 | 第41-42页 |
| 3.4 采样保持电路性能仿真 | 第42-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 基准源及每级1.5 位流水线MDAC电路实现 | 第46-68页 |
| 4.1 基准源 | 第46-53页 |
| 4.1.1 电路结构 | 第46-48页 |
| 4.1.2 环路特性的仿真 | 第48-50页 |
| 4.1.3 PTAT系统仿真 | 第50-53页 |
| 4.2 每级1.5 位MDAC电路实现 | 第53-62页 |
| 4.2.1 MDAC主体放大电路 | 第55-57页 |
| 4.2.2 电阻失配型动态锁存比较器 | 第57-59页 |
| 4.2.3 子adc电路及dac电路 | 第59-62页 |
| 4.3 时钟对齐电路与数字校正电路 | 第62-64页 |
| 4.4 流水线ADC整体性能仿真 | 第64-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 低功耗架构下的流水线ADC改进 | 第68-82页 |
| 5.1 动静态图像的判断 | 第68-71页 |
| 5.1.1 动态图像与静态图像 | 第68-69页 |
| 5.1.2 带存储功能的像素单元 | 第69页 |
| 5.1.3 移动检测比较器 | 第69-71页 |
| 5.2 动静态图像的选择性ADC | 第71-78页 |
| 5.2.1 流水线ADC改进 | 第72-76页 |
| 5.2.2 各级MBIT信号产生 | 第76-78页 |
| 5.3 功耗统计 | 第78-79页 |
| 5.4 ADC 整体版图及后仿 | 第79-81页 |
| 5.5 本章小结 | 第81-82页 |
| 第六章 总结 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |