| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-23页 |
| 1.1 碳糊电极(CPE) | 第10-11页 |
| 1.2 化学修饰碳糊电极(CMCPE) | 第11-18页 |
| 1.2.1 修饰剂 | 第11-12页 |
| 1.2.2 制备方法和表征 | 第12页 |
| 1.2.3 CMCPE的活化和再生 | 第12-13页 |
| 1.2.4 CMCPE的富集机理 | 第13-14页 |
| 1.2.5 CMPCE在电分析化学中的优势 | 第14-15页 |
| 1.2.6 CMPCE的缺点 | 第15页 |
| 1.2.7 CMPCE的应用 | 第15-17页 |
| 1.2.8 CMPCE的发展前景 | 第17-18页 |
| 1.3 纳米二氧化钛 | 第18-20页 |
| 1.3.1 纳米材料 | 第18页 |
| 1.3.2 纳米二氧化钛的结构 | 第18-19页 |
| 1.3.3 纳米二氧化钛的制法 | 第19-20页 |
| 1.4 本论文的选题意义和主要研究内容 | 第20-23页 |
| 1.4.1 本论文的选题意义 | 第20-21页 |
| 1.4.2 本论文的主要研究内容 | 第21-23页 |
| 2 实验药品及仪器设备 | 第23-30页 |
| 2.1 实验药品 | 第23-24页 |
| 2.2 实验仪器 | 第24-25页 |
| 2.3 实验采用的测试手段及条件 | 第25-30页 |
| 2.3.1 电化学分析概述 | 第25页 |
| 2.3.2 电化学工作站 | 第25-26页 |
| 2.3.3 三电极体系 | 第26-27页 |
| 2.3.4 循环伏安法 | 第27-30页 |
| 3 纳米TiO_2修饰碳糊电极测定铅离子 | 第30-40页 |
| 3.1 纳米TiO_2修饰碳糊电极的制备及处理 | 第30-32页 |
| 3.1.1 纳米TiO_2的制备 | 第30-31页 |
| 3.1.2 修饰电极的制备 | 第31-32页 |
| 3.1.3 修饰电极的活化与表征 | 第32页 |
| 3.2 实验方法 | 第32-33页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第33-40页 |
| 3.3.1 电极的反应机理 | 第33页 |
| 3.3.2 修饰电极的电化学行为 | 第33-34页 |
| 3.3.3 修饰剂比例和修饰方法对电极性能的影响 | 第34-35页 |
| 3.3.4 支持电解质的影响 | 第35页 |
| 3.3.5 缓冲溶液及pH的影响 | 第35-36页 |
| 3.3.6 富集时间的影响 | 第36页 |
| 3.3.7 电位扫描速度的影响 | 第36-37页 |
| 3.3.8 扫描范围的影响 | 第37页 |
| 3.3.9 电极的重现性和稳定性 | 第37-38页 |
| 3.3.10 标准曲线和检出限 | 第38页 |
| 3.3.11 电极的选择性 | 第38页 |
| 3.3.12 样品的测定 | 第38-40页 |
| 4 碳纳米管与纳米TiO_2混合修饰碳糊电极测定铜离子 | 第40-47页 |
| 4.1 修饰电极的制备、活化与表征 | 第40页 |
| 4.2 实验方法 | 第40-41页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第41-47页 |
| 4.3.1 反应机理 | 第41-42页 |
| 4.3.2 修饰电极的电化学行为 | 第42页 |
| 4.3.3 修饰碳糊比例对电极性能的影响 | 第42-43页 |
| 4.3.4 底液及pH的影响 | 第43-44页 |
| 4.3.5 富集电位和时间的影响 | 第44页 |
| 4.3.6 扫描范围的影响 | 第44页 |
| 4.3.7 电位扫描速度的影响 | 第44-45页 |
| 4.3.8 电极的重现性和稳定性 | 第45页 |
| 4.3.9 标准曲线和检出限 | 第45-46页 |
| 4.3.10 其它离子的干扰 | 第46页 |
| 4.3.11 样品的测定 | 第46-47页 |
| 5 EDTA-Cu(Ⅱ)配合物与纳米TiO_2混合修饰碳糊电极测定镉离子 | 第47-56页 |
| 5.1 修饰电极的制备与活化 | 第47-48页 |
| 5.1.1 EDTA-Cu(Ⅱ)配合物的制备 | 第47页 |
| 5.1.2 电极的制备与活化 | 第47-48页 |
| 5.2 实验方法 | 第48-49页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第49-56页 |
| 5.3.1 电极的反应机理 | 第49页 |
| 5.3.2 修饰电极的电化学行为 | 第49-50页 |
| 5.3.3 修饰剂比例对电极性能的影响 | 第50-51页 |
| 5.3.4 底液及pH的影响 | 第51-52页 |
| 5.3.5 富集时间的影响 | 第52页 |
| 5.3.6 电位扫描速度的影响 | 第52-53页 |
| 5.3.7 扫描范围的影响 | 第53页 |
| 5.3.8 电极的重现性和稳定性 | 第53-54页 |
| 5.3.9 标准曲线和检出限 | 第54页 |
| 5.3.10 其它离子的干扰 | 第54页 |
| 5.3.11 样品的测定 | 第54-56页 |
| 6 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-64页 |
| 攻读硕士期间所取得的研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |