片上系统OP200设计流程中功能和时序验证
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第6-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第6页 |
| 1.2 相关验证技术的研究 | 第6-10页 |
| 1.3 论文的主要内容 | 第10-12页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 验证技术概述 | 第13-25页 |
| 2.1 功能验证技术 | 第13-21页 |
| 2.1.1 模拟验证 | 第13-17页 |
| 2.1.2 形式验证 | 第17-21页 |
| 2.2 时序验证技术 | 第21-24页 |
| 2.2.1 静态时序分析 | 第22-23页 |
| 2.2.2 动态时序验证 | 第23-24页 |
| 2.3 小结 | 第24-25页 |
| 第三章 OP200的功能验证 | 第25-45页 |
| 3.1 设计规范和验证测试计划 | 第25-31页 |
| 3.1.1 OP200设计结构 | 第25-26页 |
| 3.1.2 设计规范 | 第26-28页 |
| 3.1.3 测试验证计划 | 第28-31页 |
| 3.2 模块级静态检查和形式验证 | 第31-35页 |
| 3.3 系统级静态检查和形式验证 | 第35-36页 |
| 3.4 建立验证环境并模拟测试 | 第36-41页 |
| 3.5 软硬件协同验证 | 第41-44页 |
| 3.5.1 传统FPGA验证流程 | 第41-42页 |
| 3.5.2 改进后的FPGA验证方法 | 第42页 |
| 3.5.3 OP200软件验证环境 | 第42-43页 |
| 3.5.4 快速建模系统 | 第43-44页 |
| 3.6 小结 | 第44-45页 |
| 第四章 OP200的时序验证 | 第45-55页 |
| 4.1 OP200的静态时序验证 | 第45-51页 |
| 4.1.1 OP200时序验证流程 | 第45-48页 |
| 4.1.2 静态时序分析检查指标 | 第48-50页 |
| 4.1.3 OP200静态分析结果 | 第50页 |
| 4.1.4 时序验证方法改进前后的比较 | 第50-51页 |
| 4.2 OP200的动态时序验证 | 第51-54页 |
| 4.2.1 模拟中异步时序违反的屏蔽处理 | 第51-53页 |
| 4.2.2 动态模拟 | 第53-54页 |
| 4.3 小结 | 第54-55页 |
| 第五章 总结和展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
