宽带全数字锁相环中数控振荡器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第7-10页 |
| 1.1 论文背景研究 | 第7-8页 |
| 1.2 全数字锁相环简介 | 第8页 |
| 1.3 论文主要贡献 | 第8-9页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第9-10页 |
| 第2章 振荡器基本结构和原理 | 第10-27页 |
| 2.1 振荡原理 | 第10-12页 |
| 2.1.1 反馈机制 | 第10-11页 |
| 2.1.2 单端口分析 | 第11-12页 |
| 2.2 振荡器结构 | 第12-17页 |
| 2.2.1 环形振荡器 | 第12-14页 |
| 2.2.2 LC振荡器 | 第14-17页 |
| 2.3 压控振荡器(VCO) | 第17-20页 |
| 2.3.1 压控原理 | 第17-18页 |
| 2.3.2 调谐范围 | 第18-19页 |
| 2.3.3 振荡器工作区域及振荡幅度 | 第19-20页 |
| 2.4 数控振荡器基本原理 | 第20-27页 |
| 2.4.1 LC振荡腔 | 第21-22页 |
| 2.4.2 数字-频率转换器 | 第22-24页 |
| 2.4.3 高速抖动提高频率精度 | 第24-27页 |
| 第3章 DCO相位噪声 | 第27-38页 |
| 3.1 相位噪声的定义 | 第27-29页 |
| 3.2 器件噪声引入的相位噪声 | 第29-34页 |
| 3.2.1 器件相位噪声分析模型 | 第29-31页 |
| 3.2.2 相位噪声产生的物理机制 | 第31-34页 |
| 3.3 量化噪声引入的相位噪声 | 第34-38页 |
| 第4章 振荡器中无源器件的设计与建模 | 第38-55页 |
| 4.1 片上电感 | 第38-47页 |
| 4.1.1 基本结构 | 第38-39页 |
| 4.1.2 电感感值估计 | 第39-40页 |
| 4.1.3 电磁场仿真 | 第40-45页 |
| 4.1.4 电感建模 | 第45-47页 |
| 4.2 可变电容 | 第47-53页 |
| 4.2.1 pn结电容 | 第48页 |
| 4.2.2 MOS可变电容 | 第48-50页 |
| 4.2.3 I-MOS容值比和Q值 | 第50-53页 |
| 4.3 DiCAD | 第53-55页 |
| 第5章 数控振荡器设计 | 第55-69页 |
| 5.1 基于DiCAD的数控振荡器 | 第55-59页 |
| 5.1.1 电路基本结构 | 第55-56页 |
| 5.1.2 电容阵列 | 第56-58页 |
| 5.1.3 电感选取 | 第58页 |
| 5.1.4 有源负阻 | 第58-59页 |
| 5.1.5 仿真结果 | 第59页 |
| 5.2 基于varactor的数控振荡器 | 第59-69页 |
| 5.2.1 电容阵列 | 第60-62页 |
| 5.2.2 负阻管和Noise Filter | 第62-64页 |
| 5.2.3 译码电路 | 第64-66页 |
| 5.2.4 仿真结果 | 第66-67页 |
| 5.2.5 性能对比 | 第67-69页 |
| 第6章 全数控振荡器测试方案及结果 | 第69-79页 |
| 6.1 测试方案 | 第69页 |
| 6.2 基于DiCAD数控振荡器测试 | 第69-79页 |
| 6.2.1 芯片描述 | 第70页 |
| 6.2.2 PCB板设计 | 第70-72页 |
| 6.2.3 测试步骤 | 第72-73页 |
| 6.2.4 整理数据 | 第73-77页 |
| 6.2.5 分析 | 第77-79页 |
| 第7章 总结与展望 | 第79-80页 |
| 7.1 论文总结 | 第79页 |
| 7.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
