| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 磁电阻效应 | 第11-18页 |
| 1.1.1 正常磁电阻效应 | 第11-12页 |
| 1.1.2 各向异性磁电阻效应(AMR) | 第12页 |
| 1.1.3 巨磁阻效应(GMR) | 第12-16页 |
| 1.1.3.1 磁性多层膜 | 第12-14页 |
| 1.1.3.2 颗粒膜巨磁电阻效应 | 第14-15页 |
| 1.1.3.3 自旋阀型磁电阻效应 | 第15页 |
| 1.1.3.4 隧道磁阻效应 | 第15-16页 |
| 1.1.3.5 庞磁电阻 | 第16页 |
| 1.1.4 磁电阻效应的应用 | 第16-18页 |
| 1.1.4.1 高密度磁记录读出磁头和随机存储器 | 第16-17页 |
| 1.1.4.2 角度和角速度传感器 | 第17页 |
| 1.1.4.3 生物传感器 | 第17-18页 |
| 1.2 有机磁电阻效应 | 第18-20页 |
| 1.2.1 传统磁电阻理论 | 第18-19页 |
| 1.2.2 有机磁电阻的发展 | 第19-20页 |
| 1.3 本课题的创新点与主要工作 | 第20-22页 |
| 第二章 有机薄膜的制备及其磁电阻效应的测量 | 第22-30页 |
| 2.1 薄膜的制备技术 | 第22-23页 |
| 2.1.1 有机半导体薄膜的制备方法 | 第22-23页 |
| 2.1.2 有机半导体薄膜成长及对器件性能的影响 | 第23页 |
| 2.2 薄膜的测试技术 | 第23-30页 |
| 2.2.1 磁电阻测试技术 | 第23-27页 |
| 2.2.1.1 测试方法及原理 | 第23-25页 |
| 2.2.1.2 薄膜磁电阻测试仪器原理 | 第25-27页 |
| 2.2.2 台阶测试技术 | 第27-28页 |
| 2.2.3 表面形貌测试技术 | 第28-30页 |
| 第三章 聚乙烯基咔唑（PVK）/8羟基喹啉铝(Alq_3)薄膜的磁电阻效应 | 第30-42页 |
| 3.1 薄膜的制备 | 第30-31页 |
| 3.2 不同质量配比的 PVK /Alq_3薄膜的磁电阻效应 | 第31-35页 |
| 3.2.1 不同质量配比的 PVK/Alq_3薄膜的形貌分析 | 第31-33页 |
| 3.2.2 不同质量配比对 PVK/Alq_3薄膜的磁电阻的影响 | 第33-35页 |
| 3.3 不同薄膜厚度的 PVK /Alq_3薄膜的磁电阻效应 | 第35-38页 |
| 3.3.1 不同薄膜厚度的 PVK/Alq_3薄膜的形貌分析 | 第35-36页 |
| 3.3.2 不同薄膜厚度对 PVK/Alq_3薄膜的磁电阻的影响 | 第36-38页 |
| 3.4 不同加热温度的 PVK /Alq_3薄膜的磁电阻效应 | 第38-41页 |
| 3.4.1 不同加热温度的 PVK/Alq_3薄膜形貌分析 | 第38-39页 |
| 3.4.2 不同加热温度对 PVK/Alq_3薄膜的磁电阻的影响 | 第39-41页 |
| 3.5 小结 | 第41-42页 |
| 第四章 有机薄膜磁电阻的微观机理 | 第42-48页 |
| 4.1 极化子与双极化子迁移率对磁电阻的影响 | 第42-44页 |
| 4.2 载流子的自旋对磁电阻的影响 | 第44-45页 |
| 4.3 单重态、三重态激子对磁电阻的影响 | 第45-46页 |
| 4.4 小结 | 第46-48页 |
| 第五章 结论 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
