RCS近场测量系统设计与软件开发
| 摘要 | 第10-11页 |
| Abstract | 第11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究情况 | 第13-15页 |
| 1.3 论文的主要内容及章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 RCS基本概念及其测量方法 | 第16-25页 |
| 2.1 RCS的基本概念 | 第16-20页 |
| 2.1.1 RCS的内涵 | 第16-18页 |
| 2.1.2 RCS的分类 | 第18-19页 |
| 2.1.3 RCS的频率分区 | 第19-20页 |
| 2.2 RCS测量方法 | 第20-24页 |
| 2.2.1 RCS测量分类 | 第21-22页 |
| 2.2.2 RCS近场测量的概念 | 第22-23页 |
| 2.2.3 常见RCS近场测量方法 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 RCS近场测量系统总体设计 | 第25-45页 |
| 3.1 概述 | 第25-28页 |
| 3.1.1 主要技术指标 | 第25-26页 |
| 3.1.2 系统组成 | 第26页 |
| 3.1.3 工作原理 | 第26-28页 |
| 3.2 低散射目标支架设计 | 第28-31页 |
| 3.2.1 支架外形设计 | 第28-29页 |
| 3.2.2 支架内部设计 | 第29-31页 |
| 3.2.3 支架转动系统 | 第31页 |
| 3.3 射频链路硬件设计 | 第31-39页 |
| 3.3.1 测量仪表 | 第31-33页 |
| 3.3.2 收发天线 | 第33-37页 |
| 3.3.3 双极化测量实现 | 第37-39页 |
| 3.3.4 射频电缆选型 | 第39页 |
| 3.4 射频功率指标计算 | 第39-42页 |
| 3.5 背景电平影响分析 | 第42-44页 |
| 3.6 测量控制硬件平台设计 | 第44页 |
| 3.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 RCS近场测量系统软件开发 | 第45-65页 |
| 4.1 概述 | 第45-46页 |
| 4.1.1 功能需求 | 第45页 |
| 4.1.2 开发语言 | 第45-46页 |
| 4.2 软件总体设计 | 第46-48页 |
| 4.2.1 软件模块划分 | 第46-47页 |
| 4.2.2 模块调用机制 | 第47-48页 |
| 4.3 内部结构设计及出错处理 | 第48-51页 |
| 4.3.1 内部结构设计 | 第48-50页 |
| 4.3.2 出错处理设计 | 第50-51页 |
| 4.4 硬件控制接口 | 第51-54页 |
| 4.4.1 接口概述 | 第51-52页 |
| 4.4.2 转台电机驱动接口 | 第52页 |
| 4.4.3 网络分析仪驱动接口 | 第52-54页 |
| 4.5 软件主界面实现 | 第54-58页 |
| 4.5.1 概述 | 第54页 |
| 4.5.2 射频参数设置 | 第54-56页 |
| 4.5.3 距离选通设置 | 第56-58页 |
| 4.6 RCS测量功能实现 | 第58-64页 |
| 4.6.1 背景回波测量 | 第58-59页 |
| 4.6.2 定标体测量 | 第59-61页 |
| 4.6.3 扫频RCS测量 | 第61-63页 |
| 4.6.4 多角度RCS测量 | 第63-64页 |
| 4.7 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 基于ISAR成像的近-远场变换方法研究 | 第65-78页 |
| 5.1 引言 | 第65-66页 |
| 5.2 近-远场变换方法 | 第66-71页 |
| 5.2.1 近场ISAR成像 | 第66-70页 |
| 5.2.2 散射中心提取 | 第70-71页 |
| 5.2.3 远场RCS计算 | 第71页 |
| 5.3 散射中心目标模型变换仿真 | 第71-75页 |
| 5.4 复杂目标模型变换仿真 | 第75-77页 |
| 5.5 本章小结 | 第77-78页 |
| 结束语 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第84-85页 |
| 作者在学期间参与的科研项目 | 第85页 |
