| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 前言 | 第11-23页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-20页 |
| 1.2.1 意大利的LARIX装置 | 第13-17页 |
| 1.2.2 德国PANTER装置 | 第17-18页 |
| 1.2.3 美国XRCF装置 | 第18-20页 |
| 1.3 研究的目的及内容 | 第20-23页 |
| 第二章 硬X射线探测器地面标定装置（HXCF）介绍 | 第23-39页 |
| 2.0 原理 | 第23-25页 |
| 2.1 X射线光机 | 第25-28页 |
| 2.2 双晶单色器 | 第28-36页 |
| 2.2.1 T结构 | 第28-31页 |
| 2.2.2 高精度测角仪 | 第31-32页 |
| 2.2.3 分光晶体 | 第32-36页 |
| 2.3 前后准直管及光阑 | 第36-37页 |
| 2.4 标准探测器 | 第37-38页 |
| 2.5 移动和定位系统 | 第38-39页 |
| 第三章 标准探测器的点源探测效率刻度及效率模拟 | 第39-65页 |
| 3.1 刻度方法 | 第39-40页 |
| 3.2 实验刻度 | 第40-51页 |
| 3.3 平行光束下探测效率模拟 | 第51-59页 |
| 3.3.1 探测器扫描 | 第51-52页 |
| 3.3.2 模型建立 | 第52-55页 |
| 3.3.3 实验效率与模拟效率对比 | 第55-57页 |
| 3.3.4 模拟 | 第57-59页 |
| 3.4 不确定度评定 | 第59-65页 |
| 3.4.1 实验结果的不确定度评定 | 第59-63页 |
| 3.4.2 Monte Carlo模拟的不确定度评定 | 第63-65页 |
| 第四章 HXCF性能测量 | 第65-81页 |
| 4.1 光斑尺寸 | 第65-67页 |
| 4.1.1 设备介绍 | 第65-66页 |
| 4.1.2 测量及结果 | 第66-67页 |
| 4.2 高纯锗探测器位置确定 | 第67-68页 |
| 4.3 稳定性 | 第68-71页 |
| 4.3.1 单晶稳定性 | 第68-69页 |
| 4.3.2 双晶稳定性 | 第69-71页 |
| 4.4 能量 | 第71-74页 |
| 4.5 绝对光子数 | 第74-77页 |
| 4.6 单色性 | 第77-79页 |
| 4.7 流强测量不确定度 | 第79-81页 |
| 第五章 X射线探测器的标定与测试 | 第81-85页 |
| 5.1 碲化镉探测器 | 第81-85页 |
| 第六章 结论与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 结论 | 第85页 |
| 6.2 展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 作者攻读学位期间的科研成果 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91页 |