平显图像畸变校正单元测试方法研究和实现
致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
1 引言 | 第12-20页 |
1.1 研究背景和意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外相关技术研究现状 | 第13-17页 |
1.2.1 基于FPGA的图像处理技术研究现状 | 第13-15页 |
1.2.2 图像相似度度量技术研究现状 | 第15-16页 |
1.2.3 故障注入技术研究现状 | 第16-17页 |
1.3 研究内容和结构安排 | 第17-20页 |
2 平显图像畸变校正单元测试方法研究 | 第20-44页 |
2.1 待测预畸变平显图像特征分析 | 第20-22页 |
2.1.1 平显图像畸变校正方法介绍 | 第20-21页 |
2.1.2 预畸变后的平显图像特点 | 第21-22页 |
2.2 图像相似度度量算法 | 第22-32页 |
2.2.1 预畸变平显图像特征提取 | 第22-26页 |
2.2.2 图像相似度度量准则 | 第26-27页 |
2.2.3 常用图像相似度度量算法 | 第27-28页 |
2.2.4 图像相似度度量算法改进 | 第28-32页 |
2.3 故障注入技术研究 | 第32-40页 |
2.3.1 故障注入技术的原理及分类 | 第32-35页 |
2.3.2 硬件故障注入方法建模 | 第35-36页 |
2.3.3 故障注入模块设计 | 第36-40页 |
2.4 基于FPGA的DA控制技术研究 | 第40-42页 |
2.4.1 DA控制输入时序要求 | 第40-41页 |
2.4.2 DA电平可控输出 | 第41-42页 |
2.5 本章小结 | 第42-44页 |
3 测试系统设计与实现 | 第44-60页 |
3.1 测试系统需求分析 | 第44-45页 |
3.2 测试系统总体方案设计 | 第45-48页 |
3.2.1 测试平台硬件结构规划 | 第45-47页 |
3.2.2 测试工控机主要功能 | 第47-48页 |
3.3 系统外围电路设计 | 第48-51页 |
3.3.1 电源电路设计 | 第48-50页 |
3.3.2 时钟电路设计 | 第50-51页 |
3.4 DA控制电路设计 | 第51-52页 |
3.4.1 AD5300特性 | 第51页 |
3.4.2 电路设计 | 第51-52页 |
3.5 FPGA核心电路设计 | 第52-58页 |
3.5.1 DVI视频接口电路设计 | 第52-54页 |
3.5.2 高速DDR3 SDRAM存储电路设计 | 第54-56页 |
3.5.3 千兆以太网电路设计 | 第56-58页 |
3.6 本章小结 | 第58-60页 |
4 关键单元技术仿真与试验 | 第60-82页 |
4.1 测试系统图像数据传输试验 | 第60-67页 |
4.1.1 图像数据流分析 | 第60-62页 |
4.1.2 非标准RGB图像信号时序转换 | 第62-64页 |
4.1.3 图像数据传输接口试验 | 第64-67页 |
4.2 图像相似度度量试验 | 第67-77页 |
4.2.1 常用图像相似度度量算法试验 | 第67-71页 |
4.2.2 改进图像相似度度量算法试验 | 第71-75页 |
4.2.3 几种图像相似度度量算法对比分析 | 第75-77页 |
4.3 故障注入技术实现与试验 | 第77-79页 |
4.3.1 非标准视频信号电平输出 | 第77-78页 |
4.3.2 VESA时序拉偏处理 | 第78-79页 |
4.4 控制指令输出试验 | 第79-81页 |
4.5 本章小结 | 第81-82页 |
5 系统总体验证与分析 | 第82-96页 |
5.1 试验环境搭建 | 第82-83页 |
5.2 正常工作时图像相似度的度量 | 第83-85页 |
5.3 故障注入时图像相似度的度量 | 第85-94页 |
5.3.1 视频信号电平故障因素注入 | 第85-88页 |
5.3.2 VESA时序故障因素注入 | 第88-89页 |
5.3.3 混合故障因素注入 | 第89-94页 |
5.4 本章小结 | 第94-96页 |
6 总结与展望 | 第96-98页 |
6.1 工作总结 | 第96-97页 |
6.2 未来展望 | 第97-98页 |
参考文献 | 第98-102页 |
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第102-106页 |
学位论文数据集 | 第106页 |