摘要 | 第7-8页 |
Abstract | 第8-9页 |
第1章 绪论 | 第14-27页 |
1.1 形状记忆聚合物 | 第14-20页 |
1.1.1 形状记忆聚合物的简介 | 第14页 |
1.1.2 形状记忆聚合物的分子机理 | 第14-15页 |
1.1.3 形状记忆聚合物的分类 | 第15-19页 |
1.1.4 形状记忆聚合物的应用 | 第19-20页 |
1.2 聚ε-己内酯及其复合材料的概述 | 第20-23页 |
1.2.1 聚ε-己内酯的特性与应用 | 第20页 |
1.2.2 纳米纤维素 | 第20-21页 |
1.2.3 纳米纤维素在形状记忆聚合物中的应用 | 第21页 |
1.2.4 聚ε-己内酯复合材料 | 第21-23页 |
1.3 聚合物高压重结晶的研究现状 | 第23-24页 |
1.4 形状记忆微纳米颗粒 | 第24-25页 |
1.5 本论文研究目的、研究内容及创新 | 第25-27页 |
1.5.1 研究意义及目的 | 第25-26页 |
1.5.2 研究内容 | 第26页 |
1.5.3 本课题的主要创新点 | 第26-27页 |
第2章 高压重结晶过程中NCC含量对PCL-NCC复合材料形状记忆性能的影响 | 第27-46页 |
2.1 实验试剂与仪器 | 第27-28页 |
2.1.1 实验试剂 | 第27-28页 |
2.1.2 实验仪器 | 第28页 |
2.2 PCL-NCC复合材料的制备 | 第28-29页 |
2.2.1 纳米纤维素(NCC)的DMF溶液的制备 | 第28-29页 |
2.2.2 PCL-NCC复合材料的制备 | 第29页 |
2.3 高压重结晶的PCL-NCC复合材料的制备 | 第29-30页 |
2.4 材料的表征方法 | 第30-32页 |
2.4.1 傅里叶红外变换光谱表征(FTIR) | 第30页 |
2.4.2 NCC粒径分布的表征(DLS) | 第30页 |
2.4.3 NCC的透射电子显微镜表征(TEM) | 第30页 |
2.4.4 扫描电子显微镜表征(SEM) | 第30-31页 |
2.4.5 接触角表征 | 第31页 |
2.4.6 热稳定性分析(TGA) | 第31页 |
2.4.7 X射线衍射表征(XRD) | 第31页 |
2.4.8 差示扫描量热分析(DSC) | 第31页 |
2.4.9 凝胶含量表征 | 第31-32页 |
2.4.10 形状记忆性能表征 | 第32页 |
2.4.11 静态力学性能表征 | 第32页 |
2.5 实验结果与讨论 | 第32-45页 |
2.5.1 MCC与NCC的红外光谱分析 | 第32-33页 |
2.5.2 NCC的粒径分布分析 | 第33-34页 |
2.5.3 NCC的透射电镜分析 | 第34页 |
2.5.4 NCC在PCL中分散情况的扫描电镜分析 | 第34-35页 |
2.5.5 接触角分析 | 第35-36页 |
2.5.6 热稳定性分析 | 第36页 |
2.5.7 不同保温温度复合材料的结晶性能分析 | 第36-37页 |
2.5.8 不同保温温度复合材料的热性能分析 | 第37-38页 |
2.5.9 不同保温温度复合材料的形状记忆性能分析 | 第38-39页 |
2.5.10 不同NCC含量复合材料的晶体形貌分析 | 第39-41页 |
2.5.11 不同NCC含量复合材料的结晶性能分析 | 第41-42页 |
2.5.12 不同NCC含量复合材料的热性能分析 | 第42页 |
2.5.13 不同NCC含量复合材料的形状记忆性能分析 | 第42-44页 |
2.5.14 不同NCC含量复合材料的静态力学性能分析 | 第44-45页 |
2.6 本章小结 | 第45-46页 |
第3章 不同重结晶压强对PCL-NCC-6复合材料形状记忆性能的影响 | 第46-61页 |
3.1 实验试剂与仪器 | 第46-47页 |
3.1.1 实验试剂 | 第46页 |
3.1.2 实验仪器 | 第46-47页 |
3.2 PCL-NCC复合材料的制备 | 第47页 |
3.3 不同重结晶压强的PCL-NCC-6复合材料的制备 | 第47页 |
3.4 材料表征方法 | 第47-48页 |
3.4.1 偏光显微镜表征(POM) | 第47页 |
3.4.2 扫描电子显微镜表征(SEM) | 第47页 |
3.4.3 X射线衍射表征(XRD) | 第47页 |
3.4.4 差示扫描量热分析(DSC) | 第47页 |
3.4.5 凝胶含量表征 | 第47-48页 |
3.4.6 形状记忆性能表征 | 第48页 |
3.4.7 静态力学性能表征 | 第48页 |
3.5 实验结果与讨论 | 第48-60页 |
3.5.1 晶体形貌的偏光显微镜分析 | 第48-49页 |
3.5.2 晶体形貌的扫描电镜分析 | 第49-50页 |
3.5.3 结晶性能分析 | 第50-52页 |
3.5.4 热性能分析 | 第52-53页 |
3.5.5 形状记忆性能分析 | 第53-57页 |
3.5.6 静态力学性能分析 | 第57-58页 |
3.5.7 形状记忆性能的机理研究 | 第58-60页 |
3.6 本章小结 | 第60-61页 |
第4章 交联的6 arm PEG-PCL形状记忆纳米颗粒的制备及其表征 | 第61-76页 |
4.1 实验试剂与仪器 | 第61-63页 |
4.1.1 实验试剂 | 第61-62页 |
4.1.2 实验仪器 | 第62-63页 |
4.2 交联的6 arm PEG-PCL的制备 | 第63-66页 |
4.2.1 ε-CL的纯化 | 第63页 |
4.2.2 6arm PEG的纯化 | 第63页 |
4.2.3 溶剂的纯化 | 第63-64页 |
4.2.4 6 arm PEG-PCL的制备 | 第64页 |
4.2.5 丙烯酰氯的配制 | 第64页 |
4.2.6 6 arm PEG-PCL-AC的制备 | 第64-65页 |
4.2.7 交联的6 arm PEG-PCL的制备 | 第65-66页 |
4.3 交联的6 arm PEG-PCL形状记忆纳米颗粒的制备 | 第66-68页 |
4.3.1 5 wt%的PVA水溶液的制备 | 第66页 |
4.3.2 载有交联6 arm PEG-PCL形状记忆纳米颗粒的PVA膜的制备 | 第66-67页 |
4.3.3 变形后的形状记忆纳米颗粒的制备 | 第67-68页 |
4.4 材料的表征方法 | 第68-69页 |
4.4.1 傅里叶变换红外光谱(FTIR) | 第68页 |
4.4.2 核磁共振氢谱(~1H-NMR) | 第68页 |
4.4.3 差示扫描量热分析(DSC) | 第68页 |
4.4.4 材料的宏观形状记忆性能表征 | 第68-69页 |
4.4.5 纳米颗粒粒径的表征(DLS) | 第69页 |
4.4.6 纳米颗粒的原子力显微镜表征(AFM) | 第69页 |
4.5 实验结果与讨论 | 第69-75页 |
4.5.1 红外光谱分析 | 第69-70页 |
4.5.2 核磁共振氢谱分析 | 第70-71页 |
4.5.3 热性能分析 | 第71页 |
4.5.4 形状记忆性能分析 | 第71-72页 |
4.5.5 纳米颗粒的粒径分析 | 第72-74页 |
4.5.6 原子力显微镜表征纳米颗粒的形状记忆性能 | 第74-75页 |
4.6 本章小结 | 第75-76页 |
结论 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-88页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88页 |