| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 氯酚类污染物检测方法的国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 氯酚类有机污染物的特点与危害 | 第10-11页 |
| 1.2.2 氯酚类有机污染物的检测技术 | 第11-13页 |
| 1.3 纳米材料修饰电极的发展与应用 | 第13-18页 |
| 1.3.1 石墨烯纳米材料的特点与制备方法 | 第13-14页 |
| 1.3.2 金属/石墨烯催化剂材料研究 | 第14-16页 |
| 1.3.3 修饰电极的方法研究 | 第16-18页 |
| 1.4 研究的目的和意义 | 第18页 |
| 1.5 研究内容和技术路线 | 第18-20页 |
| 1.5.1 研究内容 | 第18-19页 |
| 1.5.2 技术路线 | 第19-20页 |
| 2 实验材料与方法 | 第20-27页 |
| 2.1 实验试剂与设备 | 第20-21页 |
| 2.1.1 实验试剂 | 第20-21页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第21页 |
| 2.2 修饰电极材料的制备 | 第21-24页 |
| 2.2.1 氧化石墨的制备 | 第21-22页 |
| 2.2.2 金属/石墨烯催化剂的制备 | 第22-24页 |
| 2.3 工作电极的制备 | 第24-25页 |
| 2.4 实验方法与装置 | 第25页 |
| 2.5 分析方法 | 第25-27页 |
| 2.5.1 X-射线衍射(XRD) | 第25-26页 |
| 2.5.2 比表面积(BET) | 第26页 |
| 2.5.3 扫描电子显微镜(SEM) | 第26页 |
| 2.5.4 透射电子显微镜(TEM) | 第26页 |
| 2.5.5 红外光谱(FT-IR) | 第26页 |
| 2.5.6 X-射线光电子能谱(XPS) | 第26页 |
| 2.5.7 电化学交流阻抗(EIS) | 第26-27页 |
| 3 金属/石墨烯催化剂的表征与分析 | 第27-43页 |
| 3.1 石墨、氧化石墨、金属/石墨烯催化剂的XRD表征 | 第27-29页 |
| 3.1.1 石墨、氧化石墨的XRD表征 | 第27页 |
| 3.1.2 金属/石墨烯催化剂的XRD表征 | 第27-29页 |
| 3.2 金属/石墨烯催化剂的BET表征 | 第29-30页 |
| 3.3 金属/石墨烯催化剂的SEM表征 | 第30-32页 |
| 3.4 金属/石墨烯催化剂的TEM/EDS表征 | 第32-34页 |
| 3.5 氧化石墨、石墨烯、金属/石墨烯催化剂的FT-IR表征 | 第34-35页 |
| 3.6 金属/石墨烯催化剂的XPS表征 | 第35-40页 |
| 3.7 金属/石墨烯催化剂的电化学表征 | 第40-41页 |
| 3.8 本章小结 | 第41-43页 |
| 4 单金属/石墨烯修饰玻碳电极检测水体中4-氯酚的研究 | 第43-51页 |
| 4.1 检测条件的影响 | 第43-46页 |
| 4.1.1 支持电解质的影响 | 第43-44页 |
| 4.1.2 pH的影响 | 第44-45页 |
| 4.1.3 扫描速率的影响 | 第45-46页 |
| 4.2 4-CP的线性范围和检出限 | 第46-48页 |
| 4.3 修饰电极的抗干扰性 | 第48-49页 |
| 4.4 修饰电极的重现性、稳定性 | 第49页 |
| 4.5 回收率的测定 | 第49-50页 |
| 4.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 双金属/石墨烯修饰玻碳电极检测水体中4-氯酚的研究 | 第51-58页 |
| 5.1 检测条件的影响 | 第51-54页 |
| 5.1.1 支持电解质的影响 | 第51页 |
| 5.1.2 pH的影响 | 第51-52页 |
| 5.1.3 扫描速率的影响 | 第52-54页 |
| 5.2 4-CP的线性范围和检出限 | 第54-56页 |
| 5.3 修饰电极的抗干扰性 | 第56页 |
| 5.4 修饰电极的重现性、稳定性 | 第56页 |
| 5.5 回收率的测定 | 第56-57页 |
| 5.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 6 结论和展望 | 第58-60页 |
| 6.1 结论 | 第58页 |
| 6.2 展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 个人简介 | 第65-66页 |
| 第一导师简介 | 第66-67页 |
| 第二导师简介 | 第67-68页 |
| 获得成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
