| 目录 | 第3-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号说明 | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-31页 |
| 1.1 腐蚀电化学研究的最新进展 | 第11-13页 |
| 1.2 扫描电化学显微镜研究概况 | 第13-22页 |
| 1.2.1 发展概况 | 第13-14页 |
| 1.2.2 仪器装置 | 第14-15页 |
| 1.2.3 工作模式 | 第15-17页 |
| 1.2.4 样品表面扫描成像 | 第17-18页 |
| 1.2.5 应用领域 | 第18-19页 |
| 1.2.6 SECM在腐蚀研究中的应用 | 第19-22页 |
| 1.3 本论文的研究目的和研究思路 | 第22-23页 |
| 1.3.1 研究目的及意义 | 第22页 |
| 1.3.2 研究总体思路 | 第22-23页 |
| 参考文献 | 第23-31页 |
| 第二章 仪器与实验方法 | 第31-34页 |
| 2.1 研究体系 | 第31页 |
| 2.2 实验仪器与方法 | 第31-33页 |
| 参考文献 | 第33-34页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第34-58页 |
| 3.1 碘离子反应的确定 | 第34-36页 |
| 3.1.1 改变溶液组分 | 第34-35页 |
| 3.1.2 改变电位区间 | 第35-36页 |
| 3.2 铁基底腐蚀产物的确定 | 第36-39页 |
| 3.3 铁基底腐蚀产物的测定条件变化 | 第39-50页 |
| 3.3.1 固定基底电位0.5V | 第39-43页 |
| 3.3.1.1 基底电位0.5V腐蚀产物的确定 | 第39-41页 |
| 3.3.1.2 基底探针距离的变化对腐蚀产物的影响 | 第41-43页 |
| 3.3.2 基底电位对腐蚀产物的影响 | 第43-45页 |
| 3.3.3 碘化钾浓度变化对腐蚀产物的影响 | 第45-46页 |
| 3.3.4 浸泡时间变化 | 第46-48页 |
| 3.3.5 改变基底探针间距离 | 第48-50页 |
| 3.4 氯化钠溶液中腐蚀产物的确定 | 第50-53页 |
| 3.4.1 探针电位对腐蚀产物的影响 | 第50-52页 |
| 3.4.2 溶液浓度的变化 | 第52-53页 |
| 3.5 前景展望 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 第四章 结论 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60-61页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第61页 |