| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 课题的国内外研究现状及分析 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 课题的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 线束接触电阻测试系统方案设计 | 第14-23页 |
| 2.1 引言 | 第14页 |
| 2.2 技术指标 | 第14页 |
| 2.3 总体设计方案 | 第14-17页 |
| 2.3.1 硬件总体设计方案 | 第14-15页 |
| 2.3.2 软件总体设计方案 | 第15-17页 |
| 2.4 功能模块设计方案 | 第17-22页 |
| 2.4.1 硬件功能模块设计方案 | 第17-18页 |
| 2.4.2 软件功能模块设计方案 | 第18-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 线束接触电阻测试系统硬件电路设计 | 第23-31页 |
| 3.1 引言 | 第23页 |
| 3.2 供电电路的设计 | 第23-24页 |
| 3.3 USB转SCI电路与信号隔离电路的设计 | 第24页 |
| 3.4 恒流源电路的设计 | 第24-25页 |
| 3.5 模拟开关测量切换电路的设计 | 第25-26页 |
| 3.6 信号放大电路的设计 | 第26-27页 |
| 3.7 单片机电路的设计 | 第27-28页 |
| 3.8 系统测试平台建立 | 第28-30页 |
| 3.9 本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 线束接触电阻测试系统软件设计 | 第31-42页 |
| 4.1 引言 | 第31页 |
| 4.2 下位机软件设计 | 第31-32页 |
| 4.3 上位机软件设计 | 第32-38页 |
| 4.3.1 主界面设计 | 第33-36页 |
| 4.3.2 测量配置的保存与加载 | 第36页 |
| 4.3.3 测量结果的保存 | 第36-37页 |
| 4.3.4 其它功能 | 第37-38页 |
| 4.4 通信协议设计 | 第38-40页 |
| 4.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第5章 线束接触电阻的测试及系统可靠性分析 | 第42-60页 |
| 5.1 引言 | 第42页 |
| 5.2 系统测量验证情况 | 第42-51页 |
| 5.2.1 常温下采用直流电阻箱验证 | 第42-43页 |
| 5.2.2 常温下采用低阻仪验证 | 第43-44页 |
| 5.2.3 低温下采用微阻仪验证 | 第44-48页 |
| 5.2.4 高温下采用微阻仪验证 | 第48-51页 |
| 5.3 系统测试结果不确定性分析 | 第51-52页 |
| 5.4 系统可靠性分析 | 第52-59页 |
| 5.4.1 可靠性模型的建立 | 第52-53页 |
| 5.4.2 供电单元的可靠性 | 第53-54页 |
| 5.4.3 主控单元的可靠性 | 第54-56页 |
| 5.4.4 USB转SCI电路与信号隔离单元的可靠性 | 第56-57页 |
| 5.4.5 量程切换单元的可靠性 | 第57-59页 |
| 5.4.6 系统可靠性预计 | 第59页 |
| 5.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 个人简历 | 第68页 |