C/C复合材料的显微和精细结构研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 目 录 | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-25页 |
| 1.1 研究背景和选题意义 | 第8-9页 |
| 1.2 文献综述 | 第9-24页 |
| 1.2.1 炭材料简介 | 第9-10页 |
| 1.2.2 炭材料结构 | 第10-14页 |
| 1.2.3 C/C复合材料简介 | 第14-16页 |
| 1.2.4 C/C复合材料的制备 | 第16-18页 |
| 1.2.5 C/C复合材料的微观结构 | 第18-22页 |
| 1.2.6 C/C复合材料的性能 | 第22-24页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第24-25页 |
| 第二章 实验材料和实验方法 | 第25-40页 |
| 2.1 实验材料及石墨化处理 | 第25-30页 |
| 2.1.1 实验材料介绍 | 第25页 |
| 2.1.2 材料密度测定 | 第25-28页 |
| 2.1.3 石墨化处理试样的制备 | 第28页 |
| 2.1.4 试样的石墨化处理 | 第28-30页 |
| 2.2 组织结构样品制备 | 第30-34页 |
| 2.2.1 取样 | 第30页 |
| 2.2.2 清洗样品 | 第30页 |
| 2.2.3 真空浸渍和镶样 | 第30-31页 |
| 2.2.4 磨光 | 第31-32页 |
| 2.2.5 抛光 | 第32页 |
| 2.2.6 减薄 | 第32-34页 |
| 2.3 光学显微观察 | 第34-36页 |
| 2.3.1 普通光学观察 | 第34-35页 |
| 2.3.2 偏光观察 | 第35页 |
| 2.3.3 消光角的测定 | 第35-36页 |
| 2.4 X射线衍射谱图的采集与分析方法 | 第36-37页 |
| 2.5 扫描电子显微分析 | 第37-38页 |
| 2.6 透射电子显微分析 | 第38-40页 |
| 第三章 国外盘微观结构的研究 | 第40-60页 |
| 3.1 普通光学显微结构分析 | 第40-42页 |
| 3.2 偏光显微结构及消光角 | 第42-46页 |
| 3.2.1 ALS | 第42-43页 |
| 3.2.2 Dunlop | 第43-44页 |
| 3.2.3 Goodrich | 第44-45页 |
| 3.2.4 Messier | 第45-46页 |
| 3.3 典型国外盘试样的X射线衍射分析 | 第46-49页 |
| 3.4 典型国外盘试样的电子显微分析 | 第49-60页 |
| 3.4.1 Dunlop试样电镜图像 | 第49-57页 |
| 3.4.2 Goodrich试样电镜图像 | 第57-60页 |
| 第四章 国内盘微观结构的研究 | 第60-75页 |
| 4.1 国内盘的密度测定 | 第60-61页 |
| 4.2 国内盘的光学显微分析 | 第61-64页 |
| 4.2.1 2400℃热处理 | 第61-62页 |
| 4.2.2 2700℃热处理 | 第62页 |
| 4.2.3 2880℃热处理 | 第62-64页 |
| 4.3 国内盘的X射线衍射分析 | 第64-67页 |
| 4.4 国内盘的电子显微分析 | 第67-75页 |
| 4.4.1 2400℃石墨化处理试样电子显微分析 | 第68-69页 |
| 4.4.2 2700℃石墨化处理试样电子显微分析 | 第69-71页 |
| 4.4.3 2880℃石墨化处理试样电子显微分析 | 第71-73页 |
| 4.4.4 选区电子衍射数据小结 | 第73-75页 |
| 第五章 C/C复合材料的显微和精细结构 | 第75-85页 |
| 5.1 沉积炭的光学特性 | 第75-78页 |
| 5.2 炭纤维的精细结构 | 第78-82页 |
| 5.3 基体炭的精细结构和沉积工艺 | 第82-85页 |
| 第六章 结论 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
| 致 谢 | 第89页 |
| 声 明 | 第89-90页 |
| 本人简历 | 第90页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第90页 |
