| 主要英文缩略词表 | 第5-8页 |
| 摘要 | 第8-10页 |
| Abstract | 第10-11页 |
| 第1章 引言 | 第12-22页 |
| 1.1 多核处理器与片上网络(NoC) | 第12-17页 |
| 1.1.1 多核处理器 | 第12页 |
| 1.1.2 片上系统(SoC) | 第12-15页 |
| 1.1.3 片上网络(NoC) | 第15-17页 |
| 1.2 片上网络错误发生和容错研究 | 第17-18页 |
| 1.3 片上网络多核处理器的粒度建模 | 第18-19页 |
| 1.4 论文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 1.5 本文组织结构安排 | 第20-22页 |
| 第2章 片上网络相关问题研究 | 第22-37页 |
| 2.1 NoC拓扑结构 | 第22-23页 |
| 2.2 路由算法 | 第23-25页 |
| 2.2.1 路由算法分类 | 第24-25页 |
| 2.2.2 路由的死锁,活锁和饿死[32] | 第25页 |
| 2.2.3 常见路由算法 | 第25页 |
| 2.3 流控机制 | 第25-29页 |
| 2.3.1 信息(Messages),数据包(Packets),微片(Flits)和物理微片(Phits) | 第26-27页 |
| 2.3.2 不同粒度的流控方 | 第27页 |
| 2.3.3 虚拟通道 | 第27-29页 |
| 2.4 路由器结构 | 第29-31页 |
| 2.5 容错路由 | 第31-34页 |
| 2.5.1 故障模型 | 第31-33页 |
| 2.5.2 容错路由算法 | 第33-34页 |
| 2.6 片上网络测试方法 | 第34-36页 |
| 2.7 片上网络的评价标准 | 第36-37页 |
| 第3章 百核可容工艺偏差片上网络及其测试电路设计 | 第37-57页 |
| 3.1 故障模型 | 第38-39页 |
| 3.2 路由器结构 | 第39-43页 |
| 3.2.1 链路和交换开关信息 | 第40页 |
| 3.2.2 容错路由算法 | 第40-42页 |
| 3.2.3 虚拟通道选择与FIFO深度设置 | 第42页 |
| 3.2.4 Wavefront交换开关分配机制 | 第42-43页 |
| 3.3 BISR测试电路 | 第43-48页 |
| 3.3.1 测试控制电路与测试单元 | 第44-46页 |
| 3.3.2 测试与配置包结构 | 第46-47页 |
| 3.3.3 BISR测试方法 | 第47-48页 |
| 3.4 工艺偏差容错 | 第48-49页 |
| 3.5 百核片上网络的硬件实现 | 第49-51页 |
| 3.6 芯片测试平台 | 第51-52页 |
| 3.7 测试结果及分析 | 第52-56页 |
| 3.8 本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 基于多层网络的片上网络测试结构改进 | 第57-69页 |
| 4.1 多层测试获得网络(TAN) | 第57-62页 |
| 4.1.1 广播网络 | 第58-61页 |
| 4.1.2 汇集网络 | 第61-62页 |
| 4.2 路由器组件测试方法 | 第62-66页 |
| 4.2.1 路由器控制电路测试 | 第62-64页 |
| 4.2.2 路由器链路测试 | 第64-65页 |
| 4.2.3 交换开关测试 | 第65-66页 |
| 4.2.4 虚拟通道FIFO测试 | 第66页 |
| 4.3 路由器测试结构 | 第66-67页 |
| 4.4 多层网络测试结构性能评估 | 第67-68页 |
| 4.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 基于片上网络的多核处理器的粒度建模 | 第69-83页 |
| 5.1 片上网络多核处理器性能模型 | 第69-77页 |
| 5.1.1 多核面积模型 | 第69-70页 |
| 5.1.2 单核处理器性能与面积关系模型 | 第70-73页 |
| 5.1.3 多核性能模型 | 第73-77页 |
| 5.1.4 模型结果分析 | 第77页 |
| 5.2 片上网络多核处理器良率模型 | 第77-79页 |
| 5.3 片上网络多核处理器时间稳定性模型 | 第79-80页 |
| 5.4 片上网络多核处理器三维评估指标 | 第80-82页 |
| 5.4.1 PYR三维评估标准 | 第81页 |
| 5.4.2 使用PYR标准进行多核粒度评估 | 第81-82页 |
| 5.5 本章小结 | 第82-83页 |
| 第6章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 6.1 总结 | 第83-84页 |
| 6.2 展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-91页 |
| 硕士学习期间录用和发表的学术论文 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |