| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 专用术语注释表 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 选题的背景以及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 模拟电路故障诊断研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第13-14页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 模拟电路故障诊断理论介绍 | 第16-24页 |
| 2.1 模拟电路故障分类 | 第16-18页 |
| 2.2 信号处理方法 | 第18-20页 |
| 2.3 模式识别主要理论 | 第20-23页 |
| 2.3.1 特征筛选 | 第21-22页 |
| 2.3.2 对象分类 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 修正灰色关联分析的测试点选择模型 | 第24-42页 |
| 3.1 灰色关联分析的理论介绍 | 第24-28页 |
| 3.1.1 模拟电路系统的灰色特性 | 第24-25页 |
| 3.1.2 灰色关联度 | 第25-26页 |
| 3.1.3 灰色关联度的性质 | 第26页 |
| 3.1.4 灰色关联模型的缺陷以及改进 | 第26-27页 |
| 3.1.6 灰熵关联模型 | 第27-28页 |
| 3.2 修正灰色关联分析故障测试点选择 | 第28-31页 |
| 3.3 基于修正灰色关联分析故障测试点选择仿真分析 | 第31-41页 |
| 3.3.1 不同测试点的响应信号比较 | 第32-34页 |
| 3.3.2 电阻故障对应的最佳测试点 | 第34-39页 |
| 3.3.3 待诊断电路最优测试节点 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 最优故障子集选择模型 | 第42-54页 |
| 4.1 Wiener级数 | 第42-46页 |
| 4.1.1 Wiener级数理论介绍 | 第42-44页 |
| 4.1.2 离散Wiener核计算方式 | 第44页 |
| 4.1.3 离散Wiener核优化计算 | 第44-46页 |
| 4.2 mRMR准则 | 第46-47页 |
| 4.2.1 mRMR准则理论介绍 | 第46-47页 |
| 4.2.2 mRMR准则的缺陷以及改进 | 第47页 |
| 4.3 平衡权重因子的mRMR原则最优故障特征提取 | 第47-51页 |
| 4.3.1 基于Wiener级数的模拟电路故障特征提取 | 第47-49页 |
| 4.3.2 基于改进mRMR准则的模拟电路最优故障特征获取 | 第49-51页 |
| 4.4 仿真分析 | 第51-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 组合核SVDD故障分类模型 | 第54-64页 |
| 5.1 SVDD理论介绍 | 第54-59页 |
| 5.1.1 SVDD主要思想 | 第54页 |
| 5.1.2 SVDD数学理论 | 第54-57页 |
| 5.1.3 组合核SVDD | 第57-59页 |
| 5.2 改进SVDD模拟电路故障分类模型 | 第59-60页 |
| 5.3 实例仿真分析 | 第60-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 总结 | 第64-65页 |
| 6.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
