| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第14-32页 |
| 1.1 太阳辐射特性及观测情况 | 第14-18页 |
| 1.1.1 太阳辐射的基本特性 | 第14-15页 |
| 1.1.2 太阳辐射观测情况 | 第15-17页 |
| 1.1.3 太阳辐射观测的意义 | 第17-18页 |
| 1.2 主要的空间太阳光谱辐照度监测仪器 | 第18-28页 |
| 1.2.1 离散的单色波长太阳光谱辐照度监测 | 第18-20页 |
| 1.2.2 紫外波段太阳光谱辐照度监测 | 第20-23页 |
| 1.2.3 宽光谱范围太阳光谱辐照度监测 | 第23-28页 |
| 1.3 现有太阳光谱辐照度监测的局限性及可溯源至SI的太阳光谱仪 | 第28-30页 |
| 1.3.1 现有太阳光谱辐照度监测的局限性 | 第28页 |
| 1.3.2 可溯源至SI的太阳光谱仪 | 第28-30页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第30-32页 |
| 第2章 光谱仪相关理论 | 第32-46页 |
| 2.1 光谱仪的基本特性 | 第32-34页 |
| 2.1.1 光谱仪简介及分类 | 第32-33页 |
| 2.1.2 光谱仪的基本特性及评价参数 | 第33-34页 |
| 2.2 衍射光栅基本理论 | 第34-41页 |
| 2.2.1 光栅的工作原理及光栅方程 | 第35-36页 |
| 2.2.2 光栅的色散率 | 第36-38页 |
| 2.2.3 光栅的分辨率及光谱带宽 | 第38-39页 |
| 2.2.4 光栅的级次重叠和自由光谱范围 | 第39页 |
| 2.2.5 光栅的衍射效率与闪耀 | 第39-41页 |
| 2.2.6 光栅的谱线弯曲 | 第41页 |
| 2.3 光栅光谱仪光谱带宽影响因素 | 第41-45页 |
| 2.3.1 光栅色散能力对光谱带宽的影响 | 第42页 |
| 2.3.2 入射狭缝宽度对光谱带宽的影响 | 第42-43页 |
| 2.3.3 出射狭缝或探测器像元宽度对光谱带宽的影响 | 第43-44页 |
| 2.3.4 谱线弯曲对光谱带宽的影响 | 第44-45页 |
| 2.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第3章 星载太阳光谱仪光学系统设计与仿真 | 第46-96页 |
| 3.1 应用需求分析 | 第46-47页 |
| 3.2 总体方案设计 | 第47-49页 |
| 3.3 基于平面光栅的太阳光谱仪设计 | 第49-66页 |
| 3.3.1 Czerny-Turner结构的像差分析 | 第49-52页 |
| 3.3.2 平面光栅光谱仪设计及像质评价 | 第52-66页 |
| 3.4 基于凸面光栅的太阳光谱仪设计 | 第66-81页 |
| 3.4.1 基于凸面光栅的光谱仪的设计原理 | 第66-73页 |
| 3.4.2 基于凸面光栅的太阳光谱仪设计 | 第73-81页 |
| 3.5 系统公差分析 | 第81-86页 |
| 3.6 光谱响应函数（SRF）及光谱分辨率仿真 | 第86-94页 |
| 3.6.1 色散公式计算 | 第86-88页 |
| 3.6.2 几何光线追迹方法 | 第88-91页 |
| 3.6.3 线扩散函数卷积方法 | 第91-94页 |
| 3.7 本章小结 | 第94-96页 |
| 第4章 星载太阳光谱仪原理样机研制 | 第96-112页 |
| 4.1 探测器选型及信噪比分析 | 第96-102页 |
| 4.1.1 系统辐射传输特性 | 第97-99页 |
| 4.1.2 系统信噪比分析 | 第99-102页 |
| 4.2 原理样机研制 | 第102-110页 |
| 4.2.1 亚像元微位移设计 | 第102页 |
| 4.2.2 数据采集及数据处理程序 | 第102-105页 |
| 4.2.3 测量系统电子学性能测试 | 第105-108页 |
| 4.2.4 原理样机装调 | 第108-110页 |
| 4.3 本章小结 | 第110-112页 |
| 第5章 太阳光谱仪定标及超光谱分辨率研究 | 第112-140页 |
| 5.1 实验室波长定标 | 第112-122页 |
| 5.1.1 汞灯波长定标实验 | 第113-117页 |
| 5.1.2 单色光扫描波长定标实验 | 第117-122页 |
| 5.2 光谱响应函数及光谱分辨率测量 | 第122-125页 |
| 5.2.1 单色光扫描直接测量 | 第122-123页 |
| 5.2.2 探测器像元阵列亚像元位移扫描测量 | 第123-125页 |
| 5.3 太阳光谱仪的辐射定标 | 第125-130页 |
| 5.3.1 实验室定标 | 第125-128页 |
| 5.3.2 可溯源至SI的在轨定标 | 第128-130页 |
| 5.4 超光谱分辨率复原研究 | 第130-138页 |
| 5.4.1 超光谱分辨率复原原理 | 第130-131页 |
| 5.4.2 光谱数据的去卷积 | 第131-133页 |
| 5.4.3 超光谱分辨率复原仿真 | 第133-136页 |
| 5.4.4 超光谱分辨率复原条件下的在轨溯源定标 | 第136-138页 |
| 5.5 本章小结 | 第138-140页 |
| 第6章 总结与展望 | 第140-144页 |
| 6.1 工作内容总结 | 第140-141页 |
| 6.2 论文创新点 | 第141-142页 |
| 6.3 展望 | 第142-144页 |
| 参考文献 | 第144-154页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第154-156页 |
| 指导教师及作者简介 | 第156-158页 |
| 致谢 | 第158页 |
