FDD-LTE终端射频快速测试方法
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 缩略语对照表 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-15页 |
| ·选题缘由和意义 | 第13-14页 |
| ·国外学者的研究进展 | 第13-14页 |
| ·国内学者的研究 | 第14页 |
| ·存在的主要问题 | 第14页 |
| ·论文的主要研究思路和方法 | 第14-15页 |
| 第二章 FDD-LTE终端生产射频测试系统 | 第15-30页 |
| ·硬件框架 | 第15-19页 |
| ·通信综合测试仪 | 第15-16页 |
| ·可编程精密电源 | 第16页 |
| ·通用总线GPIB | 第16页 |
| ·屏蔽箱 | 第16页 |
| ·单板测试夹具 | 第16-18页 |
| ·测试系统硬件架构 | 第18-19页 |
| ·软件实现 | 第19-27页 |
| ·软件架构 | 第19页 |
| ·程序运行序列管理层 | 第19-20页 |
| ·人机界面模块 | 第20-21页 |
| ·参数配置模块 | 第21-22页 |
| ·终端控制模块 | 第22页 |
| ·仪器控制模块 | 第22-26页 |
| ·数据库模块 | 第26页 |
| ·程序参数模块 | 第26-27页 |
| ·数据库模型 | 第27-30页 |
| ·总体数据库架构 | 第27页 |
| ·数据库模型 | 第27-28页 |
| ·数据库访问的软件实现 | 第28-30页 |
| 第三章 终端生产射频测试基本方法 | 第30-47页 |
| ·测试系统线损测量 | 第30页 |
| ·无线终端射频校准 | 第30-34页 |
| ·校准概述 | 第30-31页 |
| ·高通平台的校准特性 | 第31-33页 |
| ·发射机校准 | 第33页 |
| ·接收机校准 | 第33-34页 |
| ·终端射频综测 | 第34-47页 |
| ·LTE频段和带宽 | 第34-35页 |
| ·射频信令测试参数设置 | 第35-41页 |
| ·参考电平的设置方法 | 第41页 |
| ·射频综测项目 | 第41-47页 |
| 第四章 FDD-LTE终端生产射频快速测试 | 第47-55页 |
| ·快速射频校准 | 第47-49页 |
| ·非信令综测 | 第49-51页 |
| ·射频口并行测试 | 第51-52页 |
| ·测试项并行综测 | 第52-55页 |
| 第五章 快速测试的数据分析 | 第55-65页 |
| ·再生生性和再现性的研究 | 第55页 |
| ·快速测试数据的获取 | 第55-56页 |
| ·快速测试数据的分析 | 第56-65页 |
| 第六章 结论和展望 | 第65-67页 |
| ·研究结论 | 第65页 |
| ·研究展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71页 |
| 1. 基本情况 | 第71页 |
| 2. 教育背景 | 第71页 |
