| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·研究内容 | 第10-11页 |
| ·本文的组织结构 | 第11-13页 |
| 第2章 动态内存及检测技术研究 | 第13-25页 |
| ·动态内存定义 | 第13页 |
| ·动态内存错误分类 | 第13-14页 |
| ·访问未初始化内存 | 第13页 |
| ·缓冲区溢出 | 第13页 |
| ·释放与申请不匹配 | 第13-14页 |
| ·迷途指针 | 第14页 |
| ·静态检测技术 | 第14-15页 |
| ·动态检测技术 | 第15-19页 |
| ·程序插桩技术 | 第15-16页 |
| ·调用拦截技术 | 第16-18页 |
| ·影子内存技术 | 第18-19页 |
| ·Linux内核中的动态内存 | 第19-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第3章 Intel IA-32体系架构上缺页异常的研究 | 第25-33页 |
| ·Intel IA-32体系架构的分页机制 | 第25-26页 |
| ·分页模式 | 第25-26页 |
| ·Intel IA-32体系架构的异常机制 | 第26-27页 |
| ·中断和异常 | 第26页 |
| ·页故障异常 | 第26-27页 |
| ·Linux内核中的分页机制 | 第27-29页 |
| ·屏蔽分段机制 | 第27页 |
| ·基于页的内存组织结构 | 第27-28页 |
| ·多级页表 | 第28-29页 |
| ·Linux内核中页故障异常处理流程 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 基于缺页异常的内存检测框架的设计与实现 | 第33-51页 |
| ·系统架构设计 | 第33-34页 |
| ·模块化设计思想 | 第33-34页 |
| ·核心组件的设计与实现 | 第34-39页 |
| ·检测组件的设计 | 第39-43页 |
| ·内存溢出检测方案 | 第39-40页 |
| ·内存未初始化访问检测方案 | 第40-43页 |
| ·错误报告的设计 | 第43-44页 |
| ·debugfs | 第43-44页 |
| ·报告内容及格式定义 | 第44页 |
| ·测试及结果分析 | 第44-49页 |
| ·实验环境 | 第44页 |
| ·功能测试 | 第44-47页 |
| ·性能测试 | 第47-49页 |
| ·实验结果分析 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第5章 结论与展望 | 第51-53页 |
| ·本文总结 | 第51页 |
| ·工作展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 攻读学位期间取得的研究成果 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |