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高过载环境下轻质电子设备缓冲保护研究

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
1 绪论第9-13页
   ·研究的背景与意义第9-10页
   ·国内外研究现状第10-12页
   ·本论文主要研究工作和安排第12-13页
2 弹载轻质电子设备缓冲保护分析第13-31页
   ·弹载电子设备破坏因素分析第13-15页
     ·撞击产生形变第13页
     ·应力波的因素第13-15页
     ·惯性力的因素第15页
     ·其他破坏因素第15页
   ·缓冲结构设计原则第15-16页
   ·电子设备内部加固防护第16-18页
   ·电子设备外部缓冲保护第18-25页
     ·泡沫铝结构分析第18-20页
     ·铝壳结构分析第20-25页
   ·缓冲材料静态压缩试验及其吸能分析第25-30页
   ·本章小结第30-31页
3 轻质电子设备缓冲保护数值模拟第31-50页
   ·空气炮冲击试验的ANSYS有限元仿真第31-42页
     ·弹载加速度测试装置缓冲保护的有限元模型第31-36页
     ·仿真结果及数据分析第36-40页
     ·泡沫铝填充铝壳结构压缩吸能效果分析第40-42页
   ·弹体侵彻钢板过程中泡沫铝填充铝壳缓冲效果数值模拟第42-49页
     ·弹体侵彻钢板原理第42-43页
     ·有限元模型建立第43-45页
     ·缓冲效果分析第45-49页
   ·本章小结第49-50页
4 轻质电子设备缓冲保护试验研究第50-63页
   ·空气炮实验设计第50-53页
   ·双通道加速度测试系统结构设计和电路设计第53-60页
     ·传感器模块第54-56页
     ·模拟电路第56-57页
     ·数字电路第57-60页
   ·空气炮冲击缓冲试验分析第60-62页
   ·本章小结第62-63页
5 总结第63-65页
   ·本文总结第63页
   ·本文创新点第63-64页
   ·展望第64-65页
参考文献第65-68页
攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作第68-69页
致谢第69-70页

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