非均匀采样信号重构技术及应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题来源、目的和意义 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第12-15页 |
| ·非均匀采样信号研究现状 | 第12-13页 |
| ·周期非均匀采样信号重构技术研究现状 | 第13-14页 |
| ·TIADC 系统应用现状 | 第14-15页 |
| ·主要研究内容 | 第15-16页 |
| ·论文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 周期非均匀采样理论基础 | 第17-27页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·均匀采样 | 第17-21页 |
| ·均匀采样信号的时域表示 | 第17-18页 |
| ·均匀采样信号的频域表示 | 第18-19页 |
| ·均匀采样信号重构 | 第19-21页 |
| ·周期非均匀采样 | 第21-26页 |
| ·周期非均匀采样信号的时域表示 | 第21-22页 |
| ·周期非均匀采样信号的频域表示 | 第22-25页 |
| ·周期非均匀采样信号重构 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 周期非均匀采样信号重构算法研究 | 第27-47页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·周期非均匀采样时间偏差估计算法研究 | 第27-37页 |
| ·正弦拟合法 | 第27-31页 |
| ·插值FFT 法 | 第31-35页 |
| ·时间偏差估计算法的改进 | 第35-37页 |
| ·周期非均匀采样信号重构算法研究 | 第37-46页 |
| ·多项式逼近重构算法 | 第37-42页 |
| ·样条插值重构算法 | 第42-45页 |
| ·两种重构算法的比较 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 4 通道TIADC 系统设计实现 | 第47-67页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·并行时间交替采样系统简介 | 第47-51页 |
| ·并行时间交替采样系统特点 | 第47-48页 |
| ·并行时间交替采样系统通道失配误差的影响 | 第48-50页 |
| ·时间交替非均匀采样系统通道失配误差的校准 | 第50-51页 |
| ·系统硬件设计 | 第51-59页 |
| ·总体设计方案 | 第51-52页 |
| ·关键电路设计 | 第52-59页 |
| ·基于FPGA 的主控电路设计 | 第59-63页 |
| ·总体逻辑设计 | 第60-61页 |
| ·采样控制信号同步 | 第61-62页 |
| ·采样数据的获取与存储 | 第62-63页 |
| ·应用程序设计 | 第63-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 系统测试及算法验证 | 第67-83页 |
| ·引言 | 第67页 |
| ·测试方案 | 第67-70页 |
| ·系统动态参数的定义 | 第67-68页 |
| ·动态参数的测试方法 | 第68-69页 |
| ·硬件测试平台 | 第69-70页 |
| ·功能测试 | 第70-72页 |
| ·数据采集功能测试 | 第70页 |
| ·模拟通道功能测试 | 第70-71页 |
| ·系统带宽测试及分析 | 第71-72页 |
| ·周期非均匀采样时间偏差估计算法验证 | 第72-76页 |
| ·周期非均匀采样信号重构算法验证 | 第76-82页 |
| ·SINAD 测试 | 第76-79页 |
| ·ENOB 测试 | 第79页 |
| ·SFDR 测试 | 第79-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-91页 |
| 附录 4 通道 TIADC 系统实物图 | 第91-92页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94页 |
