摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第1章 绪论 | 第14-29页 |
·课题的背景及意义 | 第14-15页 |
·课题的背景 | 第14-15页 |
·课题的意义 | 第15页 |
·渐开线齿轮测量技术与光学测量技术介绍 | 第15-20页 |
·渐开线齿轮测量技术概述 | 第15-18页 |
·光学三维测量技术概述 | 第18-20页 |
·结构光视觉测量技术发展现状 | 第20页 |
·课题相关技术介绍 | 第20-27页 |
·CCD 摄像机标定技术 | 第21-23页 |
·结构光视觉模型标定技术 | 第23-25页 |
·光条中心点检测技术 | 第25-27页 |
·本文的研究内容及结构安排 | 第27-29页 |
第2章 结构光视觉系统模型及标定方法 | 第29-48页 |
·摄像机成像模型及参数标定 | 第29-36页 |
·成像坐标系 | 第29-31页 |
·成像模型 | 第31-34页 |
·模型参数标定 | 第34-36页 |
·结构光平面标定 | 第36-40页 |
·结构光平面模型的传统标定法 | 第36-38页 |
·结构光平面模型的改进标定法 | 第38-40页 |
·改进标定法的实验与分析 | 第40-47页 |
·实验条件 | 第40-41页 |
·标定所需共面标靶图像幅数的选择 | 第41-45页 |
·光条宽度的选择 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第3章 直齿圆柱齿轮渐开线齿形测量模型及标定方法 | 第48-59页 |
·渐开线齿形的结构光视觉模型及参数标定 | 第48-51页 |
·渐开线齿形的结构光视觉测量模型 | 第48-49页 |
·轴线 MN 的标定 | 第49-50页 |
·伪光平面π_2的标定 | 第50-51页 |
·用于齿形测量的投影点的求解 | 第51-55页 |
·目标点 P 的三维重构 | 第51页 |
·投影点P 的三维重构 | 第51-52页 |
·投影点P 的坐标变换 | 第52-55页 |
·渐开线齿形计算 | 第55-57页 |
·基圆半径求解 | 第55-56页 |
·齿形误差计算 | 第56-57页 |
·本章小结 | 第57-59页 |
第4章 光条中心点检测 | 第59-73页 |
·一字线结构光光条模型 | 第59-62页 |
·一字线结构光的产生原理 | 第60-61页 |
·一字线结构光光条图像的灰度模型 | 第61-62页 |
·光条中心点的亚像素检测 | 第62-69页 |
·检测方法 | 第63-65页 |
·σ值的选择 | 第65-66页 |
·高斯模板窗口大小的选择 | 第66-68页 |
·光条宽度的影响 | 第68-69页 |
·光条中心点检测精度评价 | 第69-71页 |
·评价方法 | 第69-70页 |
·评价实验与分析 | 第70-71页 |
·本章小结 | 第71-73页 |
第5章 直齿圆柱齿轮渐开线齿形测量实验 | 第73-88页 |
·实验条件 | 第73-74页 |
·实验用齿轮 | 第73页 |
·实验装置 | 第73-74页 |
·基圆半径的测量实验 | 第74-79页 |
·实验步骤 | 第74-77页 |
·实验结果 | 第77-79页 |
·渐开线齿形误差测量实验 | 第79-82页 |
·实验步骤 | 第79-80页 |
·实验结果 | 第80-82页 |
·伪光平面建立对测量结果的影响 | 第82-86页 |
·实验步骤 | 第83页 |
·实验结果 | 第83-86页 |
·影响测量精度的因素 | 第86-87页 |
·硬件影响因素 | 第86页 |
·算法影响因素 | 第86-87页 |
·本章小结 | 第87-88页 |
第6章 全文总结 | 第88-90页 |
·结论和创新点 | 第88-89页 |
·不足和展望 | 第89-90页 |
参考文献 | 第90-98页 |
附录 1 用于选择共面标靶图像幅数的实验图像 | 第98-99页 |
附录 2 用于选择光条宽度的实验图像 | 第99-100页 |
附录 3 被测齿轮 | 第100-101页 |
附录 4 用于渐开线齿形测量的标定图像 | 第101-102页 |
附录 5 数控齿轮测量中心测量报告 | 第102-104页 |
附录 6 用于计算伪光平面对测量结果影响的标定图像 | 第104-106页 |
作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第106-108页 |
致谢 | 第108页 |