| 论文摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 目录 | 第8-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·课题研究背景 | 第12页 |
| ·本论文的研究内容 | 第12-13页 |
| ·研究的创新点和难点 | 第13-18页 |
| ·创新点 | 第13-15页 |
| ·难点 | 第15-16页 |
| ·HPCT的研发“历史” | 第16-17页 |
| ·HPCT测试工具的成果 | 第17-18页 |
| ·课题的应用前景 | 第18-19页 |
| 第二章 循环供电测试简介 | 第19-25页 |
| ·循环供电测试的概念和分类 | 第19页 |
| ·循环供电测试的目的 | 第19-20页 |
| ·循环供电测试的参数及其意义 | 第20-21页 |
| ·循环供电测试的流程 | 第21-22页 |
| ·三种特殊的AC Power Cycling | 第22-25页 |
| ·AC Pounding Power Cycling | 第22-23页 |
| ·AC Short Interruption | 第23页 |
| ·Node Power Cycling | 第23-25页 |
| 第三章 主流循环供电测试系统的研究 | 第25-29页 |
| ·Intel循环供电测试系统RSC2简介 | 第25-27页 |
| ·Quanta循环供电测试系统Power Cycling Box简介 | 第27页 |
| ·RSC2,Power Cycling Box和HPCT的优劣比较 | 第27-29页 |
| 第四章 创新的循环供电测试工具(HPCT)设计 | 第29-78页 |
| ·HPCT的逻辑结构设计 | 第29-32页 |
| ·总线型架构 | 第30-31页 |
| ·星型—总线型架构 | 第31页 |
| ·控制和监测逻辑架构的选择 | 第31-32页 |
| ·HPCT硬件设计 | 第32-44页 |
| ·硬件选择 | 第32-34页 |
| ·HPCT供电设计 | 第34-35页 |
| ·M0516核心电路设计 | 第35-36页 |
| ·SUT控制及监测电路 | 第36-37页 |
| ·TFT-LCD模块硬件连接图 | 第37-39页 |
| ·USB—UART硬件电路设计 | 第39-40页 |
| ·CH376存储部分硬件电路设计 | 第40页 |
| ·RTC电路设计 | 第40-41页 |
| ·5V和3.3V双向电平转换电路的设计 | 第41-44页 |
| ·HPCT原理图和PCB设计工具的选择 | 第44页 |
| ·HPCT PCB设计 | 第44-52页 |
| ·HPCT元件布局 | 第44-47页 |
| ·PCB Constraint Manager(约束管理器)参数设置 | 第47-48页 |
| ·PCB布线、敷铜及仿真 | 第48-52页 |
| ·HPCT固件设计 | 第52-73页 |
| ·HPCT工作模式定义 | 第52页 |
| ·上位机和HPCT的通信协议设计 | 第52-54页 |
| ·服务器对象参数定义 | 第54-55页 |
| ·M0516LAN内部硬件资源分配 | 第55-56页 |
| ·主程序整体流程 | 第56-57页 |
| ·UART消息截取流程 | 第57-58页 |
| ·协议分析程序流程 | 第58-59页 |
| ·Power Cycling程序流程 | 第59-61页 |
| ·U盘/SD卡存储操作程序流程图 | 第61-63页 |
| ·RTC操作程序流程 | 第63-65页 |
| ·ILI9320初始化设置 | 第65-67页 |
| ·改进的TFT字符显示方法 | 第67-68页 |
| ·EBI接口操作ILI9320的方法 | 第68-71页 |
| ·“零延时”等待机制 | 第71-72页 |
| ·TFT-LCD GUI设计 | 第72-73页 |
| ·SUT消息软件设计 | 第73-76页 |
| ·Windows系统基于MFC的串口通信软件的开发 | 第73-76页 |
| ·HPCT上位机软件设计 | 第76-78页 |
| 第五章 针对循环供电测试的BIOS修改 | 第78-106页 |
| ·AC-Windows循环供电测试的问题 | 第78-79页 |
| ·电源管理简介 | 第79-84页 |
| ·早期电源管理相关的规格和术语 | 第79-80页 |
| ·支持OSPM的ACPI规范简介 | 第80-82页 |
| ·描述ACPI的ASL语言 | 第82-84页 |
| ·AML语言简介 | 第84页 |
| ·ACPI系统的详细关机流程 | 第84-90页 |
| ·AT/ATX电源简介 | 第84-85页 |
| ·软关机时的系统动作 | 第85-87页 |
| ·系统关机后的BIOS行为 | 第87-90页 |
| ·AMI BIOS源代码分析定位 | 第90-102页 |
| ·AMI顶层目录 | 第91-92页 |
| ·BSP目录内容简介 | 第92-93页 |
| ·CORE目录内容简介 | 第93页 |
| ·CRB目录和CSP目录简介 | 第93页 |
| ·需要修改的BIOS汇编源文件定位 | 第93页 |
| ·SLPSMI_IDENTIFY_FAR函数解析 | 第93-98页 |
| ·SLPSMI_HANDLER_FAR函数解析 | 第98-102页 |
| ·编写利用BIOS操作串口的汇编代码 | 第102-106页 |
| ·插入串口消息代码 | 第103页 |
| ·BIOS的编译、烧录 | 第103-104页 |
| ·修改后的BIOS运行结果验证 | 第104-106页 |
| 第六章 服务器测试软件简介和自动执行脚本的编写 | 第106-110页 |
| ·硬件和接口信息测试软件WinPIRA简介 | 第106-107页 |
| ·配合循环供电测试的WinPIRA使用方法 | 第107页 |
| ·WinPIRA用于Power Cycling测试存在的问题 | 第107页 |
| ·BMC日志文件读取软件SELView | 第107-108页 |
| ·BMC简介 | 第107-108页 |
| ·SELView软件介绍 | 第108页 |
| ·配合循环供电测试的SELView软件使用方法 | 第108页 |
| ·配合电力循环测试的自动化测试脚本 | 第108-110页 |
| 第七章 循环供电测试方案的不足和展望 | 第110-113页 |
| ·HPCT的不足 | 第110页 |
| ·HPCT后续改进方案 | 第110-111页 |
| ·HPCT的展望 | 第111-113页 |
| 附录 | 第113-121页 |
| 参考文献 | 第121-124页 |
| 后记 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
