| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| ·低轨道带电粒子环境 | 第12-15页 |
| ·高能带电粒子辐射环境 | 第12-14页 |
| ·等离子体环境 | 第14-15页 |
| ·低轨道带电粒子环境对航天器的影响 | 第15-18页 |
| ·辐射损伤 | 第15页 |
| ·单粒子效应 | 第15-16页 |
| ·表面充放电效应 | 第16-18页 |
| ·本文的主要研究内容和意义 | 第18-20页 |
| 第二章 低高度内辐射带高能质子环境研究 | 第20-45页 |
| ·概述 | 第20-29页 |
| ·地球辐射带 | 第20-22页 |
| ·辐射带粒子的运动 | 第22-25页 |
| ·地磁B-L坐标 | 第25-26页 |
| ·南大西洋异常区 | 第26页 |
| ·辐射带模型 | 第26-29页 |
| ·数据资料及处理方法 | 第29-30页 |
| ·NOAA 卫星高能质子数据 | 第29-30页 |
| ·数据处理方法 | 第30页 |
| ·太阳周期活动对低高度内辐射带高能质子的影响 | 第30-39页 |
| ·地磁坐标下高能质子通量随太阳周期活动的变化 | 第31-35页 |
| ·南大西洋异常区随太阳周期活动的变化 | 第35-39页 |
| ·NOAA 卫星观测资料与 AP8 模型的比较 | 第39-44页 |
| ·地磁B-L坐标下的比较 | 第39-40页 |
| ·地理坐标下的比较 | 第40-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第三章 低轨道航天器表面充电分析研究 | 第45-71页 |
| ·概述 | 第45-51页 |
| ·航天器表面充电机制 | 第45-46页 |
| ·表面充电的数值模拟 | 第46-47页 |
| ·低轨道航天器的表面充电实验 | 第47-51页 |
| ·航天器表面充电的评估计算方法 | 第51-60页 |
| ·电流平衡方程 | 第51-52页 |
| ·航天器几何模型 | 第52-53页 |
| ·表面充电过程中各种电流的计算 | 第53-57页 |
| ·表面充电时间的估算 | 第57-58页 |
| ·数值计算的一些考虑 | 第58-59页 |
| ·计算流程 | 第59-60页 |
| ·低轨道航天器表面充电计算分析 | 第60-70页 |
| ·低轨道等离子体环境下多种航天材料的表面充电计算 | 第60-64页 |
| ·低轨道等离子体环境对表面充电的影响 | 第64-66页 |
| ·表面材料特性对表面充电的影响 | 第66-68页 |
| ·局部涂层的表面充电计算分析 | 第68-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第四章 低轨道航天器高电压太阳电池阵电流泄漏效应研究 | 第71-91页 |
| ·概述 | 第71-78页 |
| ·电流泄漏效应机理 | 第72-73页 |
| ·太阳电池阵电流收集 | 第73-74页 |
| ·高电压太阳电池阵电流泄漏的研究情况 | 第74-78页 |
| ·高电压太阳电池阵电流泄漏计算方法 | 第78-86页 |
| ·基本思路 | 第79-80页 |
| ·太阳电池阵结构模型 | 第80-81页 |
| ·电流收集模式 | 第81-85页 |
| ·电流泄漏计算流程 | 第85-86页 |
| ·低轨道航天器高电压太阳电池阵电流泄漏效应分析计算 | 第86-89页 |
| ·电流泄漏随轨道等离子体环境的变化 | 第86-87页 |
| ·电流泄漏随太阳电池阵电压的变化 | 第87-88页 |
| ·电流泄漏随太阳电池阵裸露导体面积的变化 | 第88-89页 |
| ·小结 | 第89-91页 |
| 第五章 总结与展望 | 第91-94页 |
| ·工作总结 | 第91-93页 |
| ·工作展望 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-100页 |
| 附录A 插图目录 | 第100-102页 |
| 附录B 表格目录 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第104-106页 |