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高精度SOI基光子晶体功能器件制备与特性研究

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
目录第8-11页
图目录第11-15页
表目录第15-16页
注释表第16-17页
1 绪论第17-39页
   ·光子晶体研究介绍第17-29页
     ·光子晶体应用第20-23页
     ·光子晶体理论分析方法第23-24页
     ·光子晶体制备方法第24-26页
     ·制备光子晶体常见的材料第26-29页
   ·光子晶体功能器件研究进展第29-38页
   ·本文的主要研究内容第38-39页
2 SOI基光子晶体功能器件制备系统与测试系统第39-60页
   ·光子器件制备流程第39-40页
   ·光刻曝光系统第40-44页
     ·常见的光学曝光方式第41-42页
     ·光刻胶第42页
     ·曝光掩膜板第42-44页
     ·光刻机曝光实验流程第44页
   ·电子束曝光系统第44-50页
     ·电子束曝光系统介绍第44-48页
     ·电子束曝光胶第48页
     ·电子束曝光系统制作光子器件的流程第48-50页
   ·感应耦合等离子体刻蚀系统第50-54页
     ·ICP刻蚀的基本机理第50-51页
     ·ICP刻蚀系统各部分介绍第51-52页
     ·常见的刻蚀气体第52-53页
     ·ICP刻蚀样片流程第53-54页
   ·微纳光子器件测试系统第54-57页
     ·测试架构介绍第54-56页
     ·测试损耗第56-57页
   ·端面处理技术第57-59页
   ·本章小结第59-60页
3 高精度SOI基光子晶体功能器件制备参数的研究第60-78页
   ·光刻曝光参数的优化与研究第60-65页
     ·光刻胶厚度控制第60-61页
     ·曝光时间对掩膜质量影响第61-63页
     ·显影时间影响对掩膜质量影响第63-64页
     ·前烘时间与后烘时间研究第64-65页
   ·电子束曝光系统参数的优化与研究第65-71页
     ·曝光胶厚度控制第65-66页
     ·电子束斑对曝光质量影响第66-67页
     ·图形失真问题对曝光质量影响第67-68页
     ·邻近效应的校正第68-70页
     ·显影时间对曝光质量影响第70-71页
   ·感应耦合等离子体刻蚀参数的优化与研究第71-77页
     ·RF2功率对刻蚀效果影响第71-73页
     ·RF1功率对刻蚀效果影响第73-74页
     ·腔内压强对刻蚀效果影响第74-75页
     ·气体流量对刻蚀效果影响第75页
     ·刻蚀参数的选择第75-77页
   ·本章小结第77-78页
4 SOI基一维光子晶体超窄宽频滤波器的设计与制备第78-99页
   ·一维光子晶体滤波器的发展与不足第78-80页
   ·一维光子晶体超窄宽频滤波器的设计第80-92页
     ·三个不同厚度一维光子晶体异质结构拼接的光子晶体滤波器第80-85页
     ·二个不同厚度一维光子晶体叠加一个异质结构的光子晶体滤波器第85-88页
     ·四个不同厚度一维光子晶体拼接的光子晶体滤波器第88-90页
     ·三种设计模型结果分析第90-92页
   ·一维光子晶体超窄宽频滤波器的制备与测试第92-98页
     ·一维光子晶体滤波器的制备第93-95页
     ·一维光子晶体滤波器的测试与分析第95-98页
   ·本章小结第98-99页
5 SOI基二维光子晶体能量耦合器与分束器的设计与制备第99-124页
   ·二维光子晶体波导能带与波导模频率分析第99-101页
   ·二维光子晶体波导修饰面的作用机理第101-102页
   ·高效率SOI基二维光子晶体能量耦合器的设计与制备第102-113页
     ·二维光子晶体波导能量耦合器的设计第102-110页
     ·不同晶格类型孔状光子晶体波导能量耦合器的制备与测试第110-113页
   ·角度可控SOI基二维光子晶体能量分束器的设计与制备第113-123页
     ·二维光子晶体角度可控能量分束器的设计第114-119页
     ·褶皱出射面的二维光子晶体能量分束器的制备与测试第119-123页
   ·本章小结第123-124页
6 结论与展望第124-126页
   ·结论第124-125页
   ·展望第125-126页
致谢第126-128页
参考文献第128-144页
附录第144-146页

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