高过载条件下时钟源可靠性的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| ·背景 | 第9页 |
| ·本课题研究的意义和目的 | 第9-10页 |
| ·当前国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第11-13页 |
| 2 时钟源的性能参数以及几种常用振荡器 | 第13-22页 |
| ·时钟源的技术指标 | 第13-17页 |
| ·输出标称频率和频率精度 | 第13页 |
| ·频率稳定度 | 第13-14页 |
| ·温度频差 | 第14页 |
| ·频率老化率 | 第14-15页 |
| ·噪声 | 第15-17页 |
| ·功耗 | 第17页 |
| ·晶振及几种常用振荡器 | 第17-20页 |
| ·各种模块和集成振荡器 | 第20-21页 |
| ·各种振荡器小结 | 第21-22页 |
| 3 石英晶振受高过载影响以及硅振荡器特性分析 | 第22-28页 |
| ·振动环境下石英晶振频率的变化机理 | 第22-23页 |
| ·振动环境下石英晶振的相位噪声 | 第23-24页 |
| ·硅振荡器特性 | 第24-27页 |
| ·抗振动特性 | 第24-25页 |
| ·温度特性 | 第25页 |
| ·输出及其抖动 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 4 晶振校准硅振荡器系统设计 | 第28-57页 |
| ·系统设计整体框图 | 第28-29页 |
| ·鉴相器设计 | 第29-34页 |
| ·鉴相器原理 | 第29-30页 |
| ·鉴相器电路设计 | 第30-32页 |
| ·硅振荡器特性实验 | 第32-34页 |
| ·鉴相器输出数据采集 | 第34-43页 |
| ·设置A/D寄存器 | 第36-37页 |
| ·A/D采集与读取 | 第37-43页 |
| ·FFT算法 | 第43-53页 |
| ·离散傅里叶变换 | 第43-48页 |
| ·FFT的单片机实现 | 第48-53页 |
| ·频率校准运算 | 第53-55页 |
| ·频率校准模块 | 第54-55页 |
| ·频率校准部分仿真 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 5 实验及结果分析 | 第57-62页 |
| ·系统实验设计 | 第57-60页 |
| ·结果分析 | 第60-62页 |
| 总结 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及取得的研究成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
