| Content | 第1-10页 |
| 中文摘要 | 第10-14页 |
| Abstract | 第14-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-25页 |
| §1.1 多功能材料 | 第19-20页 |
| §1.2 稀磁半导体 | 第20-22页 |
| §1.3 多铁材料 | 第22-24页 |
| 参考文献 | 第24-25页 |
| 第二章 背景介绍 | 第25-47页 |
| §2.1 稀磁半导体研究进展 | 第25-27页 |
| §2.2 稀磁半导体的理论模型 | 第27-34页 |
| §2.2.1 直接交换作用 | 第27-28页 |
| §2.2.2 超交换作用 | 第28-29页 |
| §2.2.3 间接相互作用 | 第29-31页 |
| §2.2.4 束缚磁极化子模型 | 第31-33页 |
| §2.2.5 Stoner模型 | 第33页 |
| §2.2.6 d~0模型 | 第33-34页 |
| §2.3 多铁材料研究进展 | 第34-35页 |
| §2.4 多铁相的来源 | 第35-39页 |
| §2.5 研究目的 | 第39-41页 |
| 参考文献 | 第41-47页 |
| 第三章 实验方法 | 第47-58页 |
| §3.1 薄膜制备：脉冲激光沉积(PLD) | 第47-53页 |
| §3.1.1 PLD的原理 | 第48-50页 |
| §3.1.2 PLD的参数分析 | 第50-52页 |
| §3.1.3 PLD的优点与缺点 | 第52-53页 |
| §3.2 薄膜的表征 | 第53-57页 |
| §3.2.1 X光衍射XRD | 第53-54页 |
| §3.2.2 扫描电镜SEM | 第54页 |
| §3.2.3 X光电子能谱XPS | 第54-55页 |
| §3.2.4 变场梯度磁量计AGM | 第55-56页 |
| §3.2.5 Hp4294A精密阻抗分析仪 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 第四章 Sm掺杂SnO_2薄膜的磁性研究 | 第58-71页 |
| §4.1 背景介绍 | 第58页 |
| §4.2 实验条件 | 第58-59页 |
| §4.3 结果与分析 | 第59-67页 |
| §4.3.1 XRD结果与分析 | 第59-60页 |
| §4.3.2 AGM结果与分析 | 第60-61页 |
| §4.3.3 第一性原理计算结果与分析 | 第61-67页 |
| §4.4 小结 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 第五章 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3 PLD纳米晶薄膜中室温铁磁性和磁电耦合 | 第71-83页 |
| §5.1 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的制备与表征 | 第71-73页 |
| §5.1.1 背景介绍 | 第71-72页 |
| §5.1.2 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的制备条件 | 第72页 |
| §5.1.3 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的结构和形貌表征 | 第72-73页 |
| §5.2 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的室温铁磁性研究 | 第73-74页 |
| §5.3 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3 薄膜的室温铁电性研究 | 第74-75页 |
| §5.4 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的室温介电性研究 | 第75-77页 |
| §5.4.1 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的室温电容-频率(C-f)曲线 | 第75-76页 |
| §5.4.2 (K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜的MC效应 | 第76-77页 |
| §5.5 (K_(0.5 )Na_(0.5 ))NbO_3薄膜的磁电耦合研究 | 第77-79页 |
| §5.5.1 电场对(K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜室温铁磁性的影响 | 第77-78页 |
| §5.5.2 电场和磁场共同作用对(K_(0.5)Na_(0.5))NbO_3薄膜室温铁磁性的影响 | 第78-79页 |
| §5.6 小结 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 第六章 BaNb_2O_6薄膜的室温铁磁性研究 | 第83-103页 |
| §6.1 BaNb_2O_6薄膜的制备与表征 | 第83-86页 |
| §6.1.1 背景介绍 | 第83页 |
| §6.1.2 BaNb_2O_6薄膜的制备条件 | 第83-84页 |
| §6.1.3 BaNb_2O_6薄膜的XRD结果与分析 | 第84-86页 |
| §6.2 BaNb_2 O_6薄膜的室温铁磁性 | 第86-88页 |
| §6.3 BaNb_2O_6薄膜的XPS结果与分析 | 第88-93页 |
| §6.4 BaNb_2O_6的室温铁磁性分析：第一性原理计算 | 第93-100页 |
| §6.4.1 BaNb_2O_6的晶体模型建立 | 第93-94页 |
| §6.4.2 结果与分析 | 第94-100页 |
| §6.5 小结 | 第100-101页 |
| 参考文献 | 第101-103页 |
| 第七章 BaNbO_3薄膜的磁性及磁电耦合研究 | 第103-117页 |
| §7.1 背景介绍 | 第103页 |
| §7.2 实验条件 | 第103-104页 |
| §7.3 结果与分析 | 第104-114页 |
| §7.3.1 XRD结果与分析 | 第104-106页 |
| §7.3.2 XPS结果与分析 | 第106-110页 |
| §7.3.3 AGM结果与分析 | 第110-114页 |
| §7.4 小结 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-117页 |
| 第八章 LiTaO_3和LiNbO_3中缺陷磁性的第一性原理研究 | 第117-128页 |
| §8.1 背景介绍 | 第117-118页 |
| §8.2 计算方法 | 第118-119页 |
| §8.3 结果与分析 | 第119-125页 |
| §8.4 小结 | 第125-126页 |
| 参考文献 | 第126-128页 |
| 致谢 | 第128-129页 |
| 攻读博士学位期间发表的专业论文目录 | 第129-130页 |
| 英文论文一 | 第130-135页 |
| 英文论文二 | 第135-140页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第140页 |
