射频电路抗高功率微波关键技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·研究背景和意义 | 第7-8页 |
·国内外研究现状 | 第8-10页 |
·工作内容和研究目标 | 第10-11页 |
·文章结构安排 | 第11-13页 |
第二章 有源电路高功率前门注入损伤实验 | 第13-31页 |
·高功率微波简介 | 第13-15页 |
·高功率微波作用半导体损伤机理 | 第15-17页 |
·高功率微波前门注入损伤实验 | 第17-29页 |
·前门注入损伤实验意义 | 第17-18页 |
·前门注入电磁脉冲信号形式 | 第18-20页 |
·级联低噪声放大器设计 | 第20-22页 |
·前门注入实验方案及实验平台 | 第22-24页 |
·实验结果及分析 | 第24-29页 |
·总结 | 第29页 |
·本章总结 | 第29-31页 |
第三章 有源电路高功率前门防护研究 | 第31-51页 |
·高功率前门防护简介 | 第31-33页 |
·高功率限幅器设计 | 第33-41页 |
·限幅器简介 | 第33-34页 |
·PIN 二极管限幅器设计 | 第34-37页 |
·限幅器测试平台 | 第37-39页 |
·限幅器测试结果及分析 | 第39-41页 |
·小结 | 第41页 |
·抗 HPM 压制双通道限幅接收系统研究 | 第41-45页 |
·双通道限幅接收系统简介 | 第41-43页 |
·带通滤波器设计 | 第43-44页 |
·双工器设计 | 第44-45页 |
·小结 | 第45页 |
·接收机前门通道抗毁伤实验 | 第45-49页 |
·实验目的和意义 | 第46页 |
·实验方案 | 第46-47页 |
·实验平台 | 第47-48页 |
·测试结果分析 | 第48-49页 |
·本章总结 | 第49-51页 |
第四章 有源电路高功率后门耦合效应研究 | 第51-69页 |
·不完全封闭腔体屏蔽效能研究 | 第51-57页 |
·电磁屏蔽及研究意义 | 第51-53页 |
·任意极化下屏蔽效能分析 | 第53-55页 |
·不同开孔形状、开孔位置对屏蔽效能影响 | 第55-57页 |
·有源电路高功率后门耦合效应研究 | 第57-67页 |
·有源电路高功率后门耦合效应研究简介 | 第57-59页 |
·低噪声放大器电路设计 | 第59-63页 |
·不完全屏蔽有源电路高功率后门耦合响应 | 第63-67页 |
·本章总结 | 第67-69页 |
第五章 无源电路高功率应用设计 | 第69-87页 |
·高功率功分器宽带、不等分设计 | 第69-77页 |
·Gysel 功分器简介 | 第69-70页 |
·新型片状传输结构用于高功率功分器宽带设计 | 第70-74页 |
·新型片状传输结构用于高功率功分器不等分设计 | 第74-77页 |
·高功率便捷型不等分功分器设计 | 第77-85页 |
·便捷型不等分功分器简介 | 第78页 |
·便捷型不等分功分器理论分析 | 第78-82页 |
·仿真及测试结果分析 | 第82-85页 |
·本章总结 | 第85-87页 |
第六章 总结与展望 | 第87-89页 |
·总结 | 第87-88页 |
·展望 | 第88-89页 |
致谢 | 第89-91页 |
参考文献 | 第91-96页 |
研究成果 | 第96-97页 |