动态可重构FPGA的电路测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·相关技术的发展和研究现状 | 第11-12页 |
| ·课题的主要工作 | 第12页 |
| ·论文结构及内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 干扰环境下的FPGA | 第14-19页 |
| ·FPGA 的分类 | 第14-15页 |
| ·基于SRAM 的FPGA 的结构 | 第15-19页 |
| ·基于SRAM 的FPGA 的通用模型 | 第15-16页 |
| ·可配置逻辑块（CLB） | 第16-17页 |
| ·布线资源 | 第17-19页 |
| 第三章 现有的故障检测和恢复方法 | 第19-24页 |
| ·故障检测方法 | 第19-22页 |
| ·冗余和并发错误检测 | 第19-21页 |
| ·离线检测和内建自测试 | 第21页 |
| ·巡回检测 | 第21-22页 |
| ·系统恢复方法 | 第22-24页 |
| ·硬件级修复 | 第22页 |
| ·配置级修复 | 第22页 |
| ·系统级修复 | 第22-24页 |
| 第四章 FPGA 重构技术 | 第24-27页 |
| ·重构系统类型 | 第24-26页 |
| ·按重构发生的时间分类 | 第24-25页 |
| ·按重构单元粒度分类 | 第25-26页 |
| ·重构设计方法 | 第26-27页 |
| ·基于差异的部分重构 | 第26页 |
| ·基于模块的部分重构 | 第26-27页 |
| 第五章 故障检测设计 | 第27-41页 |
| ·系统总体方案 | 第27-30页 |
| ·内建自测试结构 | 第30-34页 |
| ·测试矢量生成器 | 第30-31页 |
| ·线性反馈移位寄存器 | 第31-32页 |
| ·响应分析器 | 第32-34页 |
| ·BIST 设计 | 第34-38页 |
| ·测试矢量生成模块 | 第34页 |
| ·响应分析模块 | 第34-35页 |
| ·BIST 控制模块 | 第35-36页 |
| ·BIST 设计仿真结果 | 第36-38页 |
| ·控制模块设计 | 第38-41页 |
| 第六章 容错方法设计 | 第41-69页 |
| ·通用片上系统设计流程 | 第41-43页 |
| ·系统级设计 | 第41-42页 |
| ·细节设计 | 第42页 |
| ·设计实现 | 第42-43页 |
| ·动态重构系统硬件设计 | 第43-50页 |
| ·FPGA 的配置方式 | 第43-45页 |
| ·软硬件划分 | 第45-46页 |
| ·动态重构控制器 | 第46-49页 |
| ·总线宏 | 第49-50页 |
| ·动态重构系统软件设计 | 第50-60页 |
| ·EDK 硬件设计 | 第50-52页 |
| ·EDK 软件设计 | 第52-56页 |
| ·顶层设计综合 | 第56-60页 |
| ·动态模块设计综合 | 第60页 |
| ·动态重构系统实现 | 第60-67页 |
| ·设计工具 | 第61-63页 |
| ·建立设计目录 | 第63-64页 |
| ·HDL 设计描述和综合 | 第64页 |
| ·设计约束文件 | 第64-66页 |
| ·静态电路实现 | 第66-67页 |
| ·动态模块实现 | 第67页 |
| ·融合 | 第67页 |
| ·实验结果 | 第67-69页 |
| 第七章 功耗和稳定性分析 | 第69-73页 |
| ·系统时间段 | 第69-70页 |
| ·MTTF | 第70-72页 |
| ·配置文件 | 第72-73页 |
| 第八章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 附录 | 第78-80页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
