| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·古陶瓷研究中的科技测试方法 | 第10-16页 |
| ·成分分析方法比较 | 第10-13页 |
| ·结构分析方法比较 | 第13-16页 |
| ·同步辐射在古陶瓷研究中应用的现状和展望 | 第16-18页 |
| 参考文献 | 第18-24页 |
| 第二章 同步辐射光源、SRXRF和XAFS简介 | 第24-44页 |
| ·同步辐射光源的历史和特点 | 第24-27页 |
| ·同步辐射X射线荧光的原理和试验方法 | 第27-33页 |
| ·X射线荧光的产生机理 | 第27-28页 |
| ·X射线荧光的定量分析方法 | 第28-32页 |
| ·同步辐射X射线荧光 | 第32-33页 |
| ·X射线吸收精细结构的原理和试验方法 | 第33-43页 |
| ·X射线吸收精细结构的原理简介 | 第33-35页 |
| ·X射线吸收精细结构的实验方法 | 第35-37页 |
| ·X射线吸收精细结构谱的数据处理 | 第37-43页 |
| 参考文献 | 第43-44页 |
| 第三章 SRXRF无损鉴定古青白瓷的初步尝试 | 第44-55页 |
| ·引言 | 第44-45页 |
| ·实验部分 | 第45-46页 |
| ·样品 | 第45页 |
| ·实验设备与测试条件 | 第45-46页 |
| ·解谱与成分计算 | 第46页 |
| ·数据分析与讨论 | 第46-53页 |
| ·多元统计分析方法 | 第46-48页 |
| ·讨论 | 第48-53页 |
| ·结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-55页 |
| 第四章 斯里兰卡曼泰遗址出土青花瓷的化学成分分析及产地初探 | 第55-64页 |
| ·前言 | 第55-56页 |
| ·实验部分 | 第56-58页 |
| ·样品 | 第56-57页 |
| ·实验方法与仪器 | 第57-58页 |
| ·测试结果与讨论 | 第58-61页 |
| ·结语 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-64页 |
| 第五章 用XAFS初探汝瓷釉中Fe的价态 | 第64-76页 |
| ·前言 | 第64-65页 |
| ·样品与实验 | 第65页 |
| ·数据分析讨论 | 第65-74页 |
| ·结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 论文发表情况 | 第79页 |